Tiêu chuẩn Quốc gia TCVN 8885:2011 - ISO 22036:2008
Bạn đang xem bản rút gọn của tài liệu. Xem và tải ngay bản đầy đủ của tài liệu tại đây (206.56 KB, 24 trang )
TIÊU CHUẨN QUỐC GIA
TCVN 8885:2011
ISO 22036:2008
CHẤT LƯỢNG ĐẤT - XÁC ĐỊNH NGUYÊN TỐ VẾT TRONG DỊCH CHIẾT ĐẤT BẰNG PHỔ PHÁT
XẠ NGUYÊN TỬ PLASMA CẶP CẢM ỨNG (ICP-AES)
Soil quality - Determination of trace elements in extracts of soil by inductively coupled plasma - atomic
emission spectrometry (ICP-AES)
Lời nói đầu
TCVN 8885:2011 hoàn toàn tương đương với ISO 22036 :2008
TCVN 8885:2011 do Ban kỹ thuật Tiêu chuẩn quốc gia TCVN/TC 190 Chất lượng đất biên soạn, Tổng
cục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng đề nghị, Bộ Khoa học và Công nghệ công bố.
CHẤT LƯỢNG ĐẤT - XÁC ĐỊNH NGUYÊN TỐ VẾT TRONG DỊCH CHIẾT ĐẤT BẰNG PHỔ PHÁT
XẠ NGUYÊN TỬ PLASMA CẶP CẢM ỨNG
Soil quality - Determination of trace elements in extracts of soil by inductively coupled plasma
- atomic emission spectrometry (ICP-AES)
Cảnh báo: Qui trình nêu trong tiêu chuẩn này phải do nhân viên có năng lực và được đào tạo
tiến hành. Một số kỹ thuật và thuốc thử, kể cả việc sử dụng thiết bị tiềm ẩn nhiều những nguy
hiểm. Người sử dụng tiêu chuẩn này nếu chưa quen với mối nguy tiềm ẩn và những thực hành
an toàn cần phải được các nhà phân tích chuyên nghiệp tư vấn trước khi thao tác.
1. Phạm vi áp dụng
Tiêu chuẩn này mô tả qui trình xác định nguyên tố vết trong dung dịch chiết hoặc dung dịch phá mẫu
đất bằng phổ phát xạ nguyên tử plasma cặp cảm ứng (ICP-AES) đối với 34 nguyên tố (xem Bảng 1).
Phương pháp xác định nhiều nguyên tố này có thể áp dụng cho dịch chiết đất thu được từ cường thủy
theo ISO 11466, bằng DTPA theo ISO 14870 hoặc các dịch chiết yếu khác, hoặc dịch chiết đất để xác
định hàm lượng tổng số của các nguyên tố sử dụng phương pháp phá mẫu bằng axit theo ISO
14869-1hoặc phương pháp nóng chảy theo ISO 14869-2.
Lựa chọn phương pháp hiệu chuẩn tùy thuộc vào chất chiết và có thể phù hợp với nồng độ chất chiết.
2. Tài liệu viện dẫn
Các tài liệu viện dẫn sau là rất cần thiết cho việc áp dụng tiêu chuẩn này. Đối với các tài liệu viện dẫn
ghi năm công bố thì áp dụng phiên bản được nêu. Đối với các tài liệu viện dẫn không ghi năm công
bố thì áp dụng phiên bản mới nhất bao gồm cả các sửa đổi, bổ sung (nếu có).
ISO Guide 32, Calibration in analytical chemistry and use of certified reference materials.
TCVN 4851: 1989 (ISO 3696:1987) Nước dùng để phân tích trong phòng thí nghiệm - Yêu cầu kỹ
thuật và phương pháp thử.
TCVN 6910-1 (ISO 5725-1), Độ chính xác (độ đúng và độ chụm) của phương pháp đo và kết quả đo.
Phần 1: Nguyên tắc và định nghĩa chung.
TCVN 6910-2 (ISO 5725-2), Độ chính xác (độ đúng và độ chụm) của phương pháp đo và kết quả đo.
Phần 2: Phương pháp cơ bản xác định độ lặp lại và độ tái lập của phương pháp đo tiêu chuẩn.
TCVN 6648 (ISO 11465) Chất lượng đất - xác định chất khô và hàm lượng nước theo khối lượng Phương pháp khối lượng;
TCVN 6649 (ISO 11466) Chất lượng đất - Chiết các nguyên tố vết tan trong nước cường thủy.
TCVN 7370-1 (ISO 14869-1) Chất lượng đất - Hòa tan để xác định hàm lượng tổng số các nguyên tố Phần 1: Hòa tan bằng axit flohydric và axit percloric
TCVN 7370-2 (ISO 14869-2) Chất lượng đất - Hòa tan để xác định hàm lượng tổng số các nguyên tố Phần 2: Phương pháp hòa tan bằng kiềm nóng chảy;
TCVN 7727 (ISO 14870) Chất lượng đất - Chiết các nguyên tố vết bằng dung dịch đệm DTPA.
ISO Guide 32 Calibration in analytical chemistry and use of certified reference materials.
3. Thuật ngữ và định nghĩa
Trong tiêu chuẩn này, áp dụng các thuật ngữ và định nghĩa nêu trong TCVN 6910-1 (ISO 5725-1),
TCVN 6910-2 (ISO 5725-2), ISO Guide 32 và các thuật ngữ, định nghĩa sau:
3.1. Chất phân tích (analyte)
Nguyên tố được xác định.
3.2. Dung dịch hiệu chuẩn trắng (Blank calibration solution)
Dung dịch được chuẩn bị theo cùng cách chuẩn bị dung dịch hiệu chuẩn nhưng không có chất phân
tích.
3.3. Dung dịch thử trắng (Blank test solution)
Dung dịch chuẩn bị theo cùng cách chuẩn bị dung dịch mẫu thử nhưng bỏ qua phần mẫu thử.
3.4. Dung dịch hiệu chuẩn (calibration solution)
Dung dịch được dùng để hiệu chuẩn thiết bị, chuẩn bị từ dung dịch gốc bằng cách thêm axit, dung
dịch đệm, nguyên tố chuẩn và muối khi cần.
3.5. Giới hạn phát hiện của thiết bị (instrument detection limit)
Nồng độ thấp nhất có thể phát hiện được với xác suất thống kê đã xác định sử dụng thiết bị sạch và
dung dịch sạch.
CHÚ THÍCH: Dung dịch sạch thường là axit nitric pha loãng.
3.6. Mẫu phòng thí nghiệm (laboratory sample)
Mẫu được gửi đến phòng thí nghiệm để phân tích.
3.7. Độ tuyến tính (Linearity)
Đường thẳng tương quan giữa kết quả trung bình của phép đo với lượng (nồng độ) chất phân tích.
3.8. Giới hạn phát hiện của phương pháp (method detection limit)
Nồng độ thấp nhất có thể phát hiện được sử dụng phương pháp phân tích cụ thể với xác suất thống
kê xác định để cho nồng độ nguyên tố nền mẫu lớn nhất đã định.
3.9. Hóa chất tinh khiết (pure chemical)
Hóa chất có độ tinh khiết cao nhất và hệ số tỷ trọng đã biết.
CHÚ THÍCH: Hàm lượng chất phân tích và chất nhiễm bẩn/tạp chất cần phải được biết với mức độ
đảm bảo đã được thiết lập.
3.10. Dung dịch gốc (stock solution)
Dung dịch có nồng độ chất phân tích đã biết chính xác, được chuẩn bị từ hóa chất tinh khiết (3.9)
CHÚ THÍCH: Dung dịch gốc là chất chuẩn nêu trong ISO Guide 30.
3.11. Mẫu thử (test sample)
Phần được lấy từ mẫu phòng thí nghiệm sau khi làm đồng nhất, nghiền, chia,..
3.12. Dung dịch mẫu thử (test sample solution)
Dung dịch chuẩn bị sau khi chiết hoặc pha loãng mẫu thử theo qui định phù hợp.
CHÚ THÍCH: Dung dịch mẫu thử nhằm để dùng cho phép đo.
4. Nguyên tắc
Phổ phát xạ nguyên tử plasma cặp cảm ứng (ICP-AES) có thể dùng để xác định nguyên tố lượng vết
trong dung dịch. Dung dịch được phân tán bằng thiết bị tạo sương phù hợp và kết quả là soi khí được
chuyển vào đuốc plasma. Trong plasma cặp dẫn điện tần số radio, dung môi bay hơi, sau đó muối đã
được sấy khô bay hơi, phân ly, nguyên tử hóa và ion hóa. Nguyên tử của ion bị kích thích nhiệt và số
lượng photon phát ra trong quá trình chuyển đến mức năng lượng thấp được đo bằng phổ phát xạ
nguyên tử. Phổ được phân tán bằng máy đo phổ, và cường độ của đường phát xạ được quan trắc
bằng thiết bị nhạy quang. Nhận dạng các nguyên tố được tiến hành bằng các bước sóng của bức xạ
(năng lượng của photon). Phương pháp ICP-AES có thể được đùng để thực hiện xác định nhiều
nguyên tố sử dụng hệ thống quang học tiếp sau hoặc đồng thời và quanh trục hoặc đối xứng của
plasma.
Bảng 1 trình bày các ví dụ về bước sóng khuyến nghị, giới hạn phát hiện đối với một thiết bị đặc
trưng. Số liệu đưa ra có giá trị đối với nước đã được axit hóa bằng axit nitric sử dụng thiết bị tối ưu.
Sử dụng các thiết bị khác có thể dẫn đến giới hạn phát hiện khác nhau. Cũng có thể chấp nhận các
bước sóng khác.
Bảng 1 - Các bước sóng khuyến nghị và các giới hạn phát hiện ước tính cho các nguyên tố đã
chọn và các bước sóng thu được sử dụng ICP-AES Varian, Vista-Megapixel MPX (đặc điểm
detector CD)[9]
Bước sóng nguyên tố và vạch phân tích
Nguyên tố
Nhôm
Antimon
Asen
Bari
Bery
Bismuth
Hình ảnh quanh trục
Hình ảnh tỏa tròn
Bước sóng
Vạch
Giới hạn
phát hiện
Giới hạn
phát hiện
Giới hạn
phát hiện
Giới hạn
phát hiện
nm
l= nguyên tử
ll= ion
g/la
mg/kga
g/la
mg/kgb
396,068
1
0,10
2,6
0,26
4
0,4
308,215
I
309,271
I
396,152
I
0,1
0,01
4
0,4
167,078
I
0,3
0,03
1
0,1
206,833
I
0,5
0,5
16
1,6
217,581
I
1,8
0,18
5
0,5
231,146
I
2
0.2
188,979
2
0,2
12
1,2
193,696
1
0,1
11
1,1
5
0,5
197,198
I
189,042
I
188,979
I
1,5
0,15
5
0,5
233,527
II
0,06
0,006
0,7
0,07
455,403
II
0,01
0,001
0,15
0,02
493,409
II
0,04
0,004
0,15
0,02
313,107
II
0,03
0,003
0,15
0,02
313,402
II
0,01
0,001
0,15
0,02
231,861
II
0,01
0,001
0,05
0,005
223,061
I
1,8
0,18
6
0,6
306,771
I
17
1,7
208,959
I
0,7
0,07
1,2
0,12
249,678
I
1,1
0,11
1,5
0,15
249,772
I
0,5
0,05
1
0,1
214,438
II
0,1
0,01
0,5
0,05
226,502
II
0,11
0,011
0,6
0,06
228,802
II
0,20
0,02
0,5
0,05
396,847
II
0,5
0,05
0,3
0,03
317,933
II
0,3
0,03
6,5
0,7
393,366
lI
0,5
0,05
267,716
II
0,1
0,01
1
0,1
205,552
II
0,3
0,03
206,149
II
283,563
ll
0,2
0,02
284,325
II
238,892
II
0,4
0,04
1,2
0,1
228,616
II
0,4
0,04
1
0,1
230,786
II
327,396
I
0,3
0,03
1,5
0,1
315,887
Bo
Cadmi
Canxi
CIo
Coban
Đồng
224,700
lI
324,754
l
0,6
0,06
238,204
II
0,3
0,03
0,9
0,09
239,562
II
259,940
II
0,5
0,05
0,7
0,07
220,353
II
0,4
0,04
8
0,8
216,999
I
224,688
I
261,418
I
283,306
I
1,8
0,18
670,783
I
1,7
0,17
1
0,1
460,286
I
67
6,7
279,553
II
0,02
0,002
0,1
0,01
279,079
II
1
0,1
4
0,4
285,213
I
0,06
0,006
0,25
0,025
279,806
II
1,5
0,15
10
1
257,610
II
0,10
0,01
0,13
0,01
260,569
II
279,482
II
293,306
II
0,4
0,04
1
0,1
403,076
I
0,8
0,08
259,372
II
0,05
0,005
194,227
II
1,2
0,12
2,5
0,25
253,652
I
1
0,1
2
0,20
184,890
I
202,030
II
0,2
0,02
2
0,2
204,598
II
0,6
0,06
3
0,3
231,604
II
0,4
0,04
2,1
0,2
221,647
II
0,3
0,03
1,4
0,14
216,555
I
0,15
0,015
232,003
II
177,428
I
1,5
0,15
25
2,5
178,222
I
7
0,7
213,618
I
1,3
0,13
5,3
0,53
214,914
I
1
0,1
11
1,1
766,491
I
0,2
0,02
4
0,4
769,896
I
23
2,3
12
1,2
Rubi
780,03
I
1
0,1
5
0,5
Selen
196,026
I
0,8
0,08
16
1,6
203,985
I
2,8
0,28
251,611
I
0,9
0,09
2,2
0,22
212,412
I
1,3
0,13
5
0,5
288,158
I
1
0,1
328,068
I
0,4
0,04
1
0,1
Sắt
Chì
Liti
Magie
Mangan
Thủy ngân
Molypden
Niken
Phospho
Kali
Silicon
Bạc
Natri
Stronti
Lưu huỳnh
338,289
I
1
0,1
2
0,2
589,592
I
0,6
0,06
1,5
0,2
588,995
I
12
1,2
15
0,15
330,237
I
69
6,9
407,771
II
0,01
0,001
0,1
0,01
421,552
II
0,01
0,001
0,1
0,01
460,733
I
0,3
0,03
181,962
I
4
0,4
13
1,3
190,800
II
2
0,2
13
0,1
190,864
II
189,933
II
6
0,6
8
0,8
235,484
I
23
2,3
20
2,0
283,998
I
11
336,121
II
0,15
0,015
1
0,1
334,941
II
0,2
0,02
0,25
0,25
337,280
II
0,2
0,02
1
0,1
292,402
II
0,3
0,03
2
0,2
309,310
II
0,08
0,008
311,837
II
0,1
0,01
290,882
II
310,230
II
213,856
I
0,05
0,005
0,8
0,08
202,548
II
0,03
0,003
0,7
0,07
206,200
II
0,15
0,015
2
0,02
182,036
Thali
Thiếc
Titan
Vanadi
Kẽm
a
Giới hạn phát hiện sigma-3 đặc trưng sử dụng thời gian tích hợp 30 s,
b
Giới hạn phát hiện (LOD), tính theo phần khối lượng của mẫu đất tính bằng mg/kg chất khô, được
coi như 1 g mẫu thử nghiệm được chiết và được pha loãng thành 100 ml. LOD được nêu trong Bảng
1 chỉ là ví dụ về thiết bị và điều kiện phòng thí nghiệm đã nêu. Mỗi phòng thí nghiệm phải chọn các
bước sóng thích hợp và xác định LOD với các điều kiện phòng thí nghiệm đặc trưng của mình.
CHÚ THÍCH: Bước sóng nêu trong Bảng 1 thường được sử dụng, nhưng bước sóng này chỉ là các ví
dụ. Có thể áp dụng các bước sóng khác. Giới hạn phát hiện và khoảng tuyến tính thay đổi đối với
từng nguyên tố có bước sóng, phổ, điều kiện vận hành và tải nền trong dung dịch mẫu. Nếu dung dịch
có nồng độ muối cao (điển hình cho các dịch chiết đất) được đo, LOD sẽ tăng đáng kể so với mẫu
nước.
Tiêu chuẩn này chủ yếu đề cập đến việc sử dụng phổ phát xạ nguyên tử plasma cặp cảm ứng.
Những người sử dụng tiêu chuẩn này phải am hiểu vận hành phòng thí nghiệm của mình để đảm
nhận các qui trình kiểm soát chất lượng. Mẫu chuẩn đã được chứng nhận (CRM) phải được sử dụng
để thiết lập lượng các nguyên tố phù hợp trong mẫu chuẩn của phòng thí nghiệm. Sau đó có thể sử
dụng để kiểm soát chất lượng đều đặn theo qui trình nêu trong tiêu chuẩn này.
Các kết quả phải được thiết lập bằng các biểu đồ kiểm soát, đối với từng nguyên tố, trong phòng thí
nghiệm. Không chấp nhận kết quả nằm ngoài sai số của giới hạn cho phép. Phải sử dụng qui trình
kiểm soát chất lượng dựa trên các kỹ thuật thống kê được sử dụng rộng rãi để thiết lập các giới hạn
như vậy, để đảm bảo rằng các kết quả là ổn định và không xảy ra hiệu ứng trôi dài hạn. Phải sử dụng
mẫu chuẩn đã được chứng nhận thường xuyên để duy trì tính đồng bộ của các mẫu chuẩn để ngoài
thiết bị và do đó, duy trì tính đồng bộ của hệ thống kiểm soát chất lượng.
5. Chất gây nhiễu
5.1. Khái quát
Sự có mặt của các nguyên tố nền khác nhau trong dung dịch mẫu có thể gây nhiễu xấu, dẫn đến sai
số hệ thống của tín hiệu chất phân tích. Kỹ thuật đặc biệt, ví dụ hiệu chính nền, làm phù hợp nền với
dung dịch hiệu chuẩn hoặc kỹ thuật thêm chuẩn có thể được sử dụng để bổ chính cho những chất
gây nhiễu như vậy.
Chất gây nhiễu được phân chia thành nhiễu phổ và nhiễu không phổ. Chúng có thể đặc trưng cho một
chất phân tích hoặc không đặc trưng.
Nhiễu phổ (xem 5.2) do sự cách ly không hoàn toàn của bức xạ phát ra của chất phân tích từ các
nguồn bức xạ khác được phát hiện và khuếch đại bằng hệ thống phát hiện (chất gây nhiễu bổ sung).
Nhiễu không phải phổ (xem 5.3) là nhiễu khi thay đổi tính nhạy do thành phần của dung dịch được đo
(nhiều gấp đôi). Hiệu ứng nền quan sát được là một nhiễu tổng hợp do tất cả các thành phần trong
dung dịch mẫu.
Cần hiệu chỉnh nền khi xác định các nguyên tố vết. Phát xạ nền cần được đo liên kề với vạch phân
tích trên mẫu trong khi phân tích. Vị trí đã chọn đối với phép đo cường độ nền lên một hoặc cả hai
phía của đường phân tích phải được xác định do tính phức tạp của phổ liền kề với vạch phân tích. Vị
trí đã dùng phải tách biệt với nhiễu phổ, và phải phản ánh được những thay đổi trong cường độ nền vì
có thể xảy ra tại bước sóng chất phân tích cần đo. Cần tăng nền hơn với thiết bị cho phổ đối xứng.
Không nhất thiết phải hiệu chỉnh nền trong trường hợp vạch mở rộng, nếu kết quả phân tích thực sự
bị phân rã bằng phép đo hiệu chỉnh nền.
5.2. Nhiễu phổ
Nhiễu phổ là, ví dụ
- Trùng một phần hoặc hoàn toàn đường phát ra của nguyên tố khác với nguyên tố của chất phân
tích; trường hợp đặc biệt: tăng nền do cánh của đường phát ra mạnh mẽ nằm ngay sát, ví dụ thay đổi
nền dốc tại Pb 220,353 nm gây ra do AI 220,463 nm.
- Trùng dải phân tử từ hạt đa nguyên tử được tạo nên trong plasma của dung môi, không khí xung
quanh hoặc các khí (ví dụ N2, NO, NH, OH, CN) với đường phát ra của chất phân tích.
- Tăng nền do hiện tượng kết hợp lại, ví dụ thể liên tục do nhôm phát ra trong khoảng bước sóng từ
190 nm đến 220 nm.
- Tăng nền do ánh sáng rải rác.
Sự trùng đường phổ thường dẫn đến chọn đường thay thế. Nếu không thể, quy trình hiệu chính toán
học (ví dụ kỹ thuật hiệu chính nhiều nguyên tố, phù hợp phổ nhiều thành phần) có thể được sử dụng
để bổ chính cho nhiễu. Dịch chuyển nền song song có thể bổ chính bằng cách hiệu chỉnh nền. Để
hiệu chính dịch chuyển độ dốc nền, hai điểm hiệu chính nền trên mỗi phía của pic được dùng.
Đối với khảo sát nhiễu phổ của dịch chiết đất cường thủy, sử dụng đường nổi nhất của các chất phân
tích As, Cd, Co, Cr, Cu, Mn, Ni, Pb, TI và Zn. Các nguyên tố đất quan trọng nhất AI, As, Ca, Cr, Cu,
Co, Fe, Mg, Mn, Mo, Ni, Ti, V và Zn được dùng làm nguyên tố nhiễu ở hai nồng độ: 100 mg/l và 500
mg/l. Nồng độ các nguyên tố này bằng 0,33 % và 1,67 % (theo khối lượng) trong đất, đối với dịch
chiết cường thủy tiến hành theo ISO 11466.
Bảng B.1 và B.3 trong Phụ lục B đưa ra thông tin về nhiễu phổ tiềm ẩn khi phân tích dịch chiết đất
cường thủy. Cả nguyên tố nhiễu và đường phát ra của các nguyên tố này được đưa ra. Thiết bị
Perkin- Elmer Optima 30001) có độ phân giải phổ 0,006 nm tại 200 nm được áp dụng cho nghiên cứu
trong Bảng B.1, và thiết bị Varian Vista -PRO1) có trục plasma nêu trong Bảng B.3. Trùng hợp ngẫu
nhiên tùy thuộc vào độ phân giải phổ của máy đo phổ, chỉ trở nên tách biệt được khi nồng độ nguyên
tố gây nhiễu và chất phân tích đạt tới ngưỡng tới hạn.
Trong Bảng B.2 chất gây nhiễu được thể hiện theo tương đương nồng độ chất phân tích (nghĩa là làm
tăng nhiễu dương của nồng độ chất phân tích) tăng từ 100 mg/l đến 500 mg/l của nguyên tố gây
nhiễu, tương ứng. Số liệu dùng để hướng dẫn việc chỉ rõ mức độ của khả năng gây nhiễu. Người sử
dụng phải nhận biết được những thiết bị khác có thể cho mức gây nhiễu khác với những mức được
nêu trong Bảng B.2, bởi vì độ nhạy thay đổi dưới điều kiện lắp đặt thiết bị và điều kiện vận hành, như
năng lượng, tốc độ dòng khí đưa vào và chiều cao quan sát.
Một số nhiễu phổ tiềm ẩn quan sát được ở bước sóng khuyến nghị sử dụng thiết bị đối xứng trục
được nêu trong Bảng B.3. Ví dụ, nếu Cr được xác định tại 267,716 nm trong mẫu có chứa khoảng
100 mg/l AI, tín hiệu phổ sai được quan sát cho mức Cr tương đương với khoảng 0,06 mg/l. Người
sử dụng cần phải xem xét thiết bị khác có thể có nhiễu khác với những mức đã nêu trong Bảng B.3.
Hiệu ứng nhiễu cần phải được đánh giá cho từng thiết bị, về cấu hình do thiết bị sử dụng sau hoặc
thiết bị sử dụng đồng thời. Đối với mỗi thiết bị, độ nhạy khác nhau không chỉ với độ phân giải quang
học mà còn với điều kiện vận hành (như năng lượng, chiều cao quan sát và tốc độ dòng khí argon).
Khi sử dụng các bước sóng khuyến nghị, yêu cầu người phân tích phải xác định và ghi chép đối với
từng bước sóng có hiệu ứng từ nhiễu chuẩn (xem bảng B.3) cũng như bất kỳ nhiễu khác được dự
Perkin-Elmer Optima 3000 và Varian Vista -Pro là các ví dụ về sản phẩm thương mại phù hợp,
Thông tin này được đưa ra chỉ tạo thuận lợi cho người sử dụng tiêu chuẩn và không phải là xác nhận
của tiêu chuẩn về sản phẩm này.
1)
kiến có thể đặc thù cho thiết bị hoặc nền mẫu. Người phân tích phải sử dụng máy tính thường xuyên
để hiệu chính tự động cho tất cả các phân tích.
5.3. Nhiễu không phổ
Nhiễu không phổ có thể xảy ra trong quá trình trung hòa mẫu hoặc đưa mẫu (tính chất lý học) hoặc
trong plasma của chúng (cả đặc tính lý học và hóa học).
Vận chuyển chất gây nhiễu là do sự khác nhau trong đặc tính lý học (độ nhớt, sức căng bề mặt, tỉ
trọng) giữa dung dịch mẫu và dung dịch hiệu chuẩn. Chúng có thể do sự khác nhau trong thành phần
chất rắn hòa tan (ví dụ muối, chất hữu cơ) cũng như loại hoặc nồng độ của axit. Kết quả là, cung cấp
dung dịch cho bộ tạo sương, hiệu suất của bộ tạo sương và sự phân bố cỡ giọt của sol khí sẽ thay
đổi, và do vậy làm thay đổi tính nhạy. Sai số do chất gây nhiễu như vậy có thể khắc phục bằng pha
loãng dung dịch, bằng làm phù hợp nền mẫu, bằng thêm chuẩn hoặc bằng kỹ thuật nguyên tố chuẩn
(nội chuẩn).
Các chất gây nhiễu kích thích do sự thay đổi trong độ nhạy dẫn đến điều kiện plasma thay đổi khi đưa
vào nền mẫu. Các thay đổi này đóng góp vào thay đổi trong điều kiện kích thích trong plasma do
nguyên tố dễ ion hóa như kim loại kiềm. Sự tăng hay giảm hiệu ứng của các nguyên tố dễ ion hóa lên
phát xạ của chất phân tích tùy thuộc vào điều kiện vận hành của plasma (ví dụ năng lượng, tốc độ
dòng khí đưa vào, chiều cao quan sát) và khác nhau đối với từng nguyên tố. Cải thiện điều kiện
plasma có thể giảm chất gây nhiễu kích thích. Kỹ thuật khác có thể được áp dụng như pha loãng
dung dịch, làm phù hợp nền mẫu hoặc kỹ thuật thêm chuẩn.
6. Thuốc thử
Tất cả thuốc thử phải cấp độ phân tích được công nhận.
6.1. Nước
Sử dụng nước đã loại khoáng hoặc nước cất từ các thiết bị thủy tinh, phù hợp với loại 2 quy định
trong TCVN 4851 (ISO 3696). Nước được sử dụng để xác định mẫu trắng, và để chuẩn bị thuốc thử
và dung dịch tiêu chuẩn phải có nồng độ các nguyên tố có thể bỏ qua so với nồng độ thấp nhất có thể
xác định được (giới hạn phát hiện) của dung dịch mẫu.
Ví dụ thuốc thử được dùng cho dịch chiết cường thủy theo TCVN 6649 (ISO 11466) được đưa ra
dưới đây. Thuốc thử dựa trên tiêu chuẩn hoặc tài liệu khác phải được chuẩn bị như sau.
6.2. Axit nitric, w(HNO3) = 65 %; ~1,40g/ml
Sử dụng cùng một mẻ axit nitric trong toàn bộ qui trình.
6.3. Axit nitric (1+1)
Thêm 500 ml axit nitric (6.2) vào 400 ml nước, lắc đều và pha thành một lít.
6.4. Axit clohydric, w(HCI) = 37 %; ~ 1,18 g/ml.
Sử dụng cùng mẻ axit clohydric trong toàn bộ qui trình.
6.5. Axit clohydric (1+1)
Thêm 500 ml axit clohydric (6.4) vào 400 ml nước (6.1), lắc đều và pha loãng thành một lít.
Các thuốc thử khác được dùng để pha loãng hoặc chiết mẫu đất được mô tả trong các tiêu chuẩn
tương ứng.
6.6. Chuẩn bị dung dịch gốc và dung dịch tiêu chuẩn cho từng nguyên tố
Có hai nguồn dung dịch gốc:
- Dung dịch gốc là các sản phẩm thương mại;
- Dung dịch gốc được chuẩn bị trong phòng thí nghiệm từ các nguyên tố tinh khiết hoặc từ muối có
nồng độ chuẩn xác định. Nồng độ của dung dịch từng nguyên tố là 1000 mg/l.
CHÚ THÍCH: Các dung dịch gốc thương mại có những ưu điểm là không cần phải xử lý trực tiếp các
kim loại độc, đặc biệt là thali. Tuy nhiên, hết sức chú ý là các dung dịch này phải có thành phần được
chứng nhận, được cung cấp từ các nguồn đáng tin cậy và phải được kiểm tra thường xuyên.
6.7. Dung dịch chuẩn trung gian
Dung dịch chuẩn trung gian có thể được chuẩn bị cho từng chất phân tích riêng, hoặc cho dung dịch
chuẩn đa nguyên tố bằng cách pha loãng dung dịch gốc. Các dung dịch này cần phải bền bằng cách
thêm 10 ml axit nitric (6.3) vào 100 ml dung dịch. Dung dịch trung gian bị hạn chế về tính bền và phải
được loại bỏ sau 3 tháng, tùy thuộc vào nồng độ dung dịch.
6.8. Dung dịch chuẩn đa nguyên tố
Nếu một vài nguyên tố được xác định trên từng mẫu, chuẩn bị dung dịch chuẩn đa nguyên tố sẽ thuận
tiện hơn.
Dung dịch chuẩn hỗn hợp nhiều nguyên tố khuyến nghị như sau:
- Dung dịch chuẩn hỗn hợp 1:
AI, B, Be, Cd, Co, Cr, Cu, Fe, Pb, Li, Mn, Mo, Ni, V, Bi, Sr, Zn, Zr và 10 ml axit nitric (6.3) trong 100
ml.
- Dung dịch chuẩn hỗn hợp 2:
As, Se, Sb, Sn và Ti với 5 ml axit nitric (6.3) và 40 ml axit clohydric (6.5) trong 100 ml.
- Dung dịch chuẩn hỗn hợp 3:
Ca, Mg, Na, K, Ba, Ti và 10 ml axit nitric (6.3) trong 100 ml.
Cần sử dụng nền phù hợp nếu nồng độ của các nguyên tố cùng chiết cao như AI, Ca, Fe, Mg, Na,
hoặc K được quan sát thấy. Độ bền của dung dịch chuẩn này có thể kiểm tra bằng cách so sánh với
dung dịch mới chuẩn bị thường xuyên.
Chú ý khi chuẩn bị dung dịch chuẩn hỗn hợp để đảm bảo rằng các nguyên tố tương thích với nhau và
bền như nhau. Cũng có thể kết hợp các nguyên tố khác và tùy thuộc vào nhiệm vụ phân tích. Để
tránh ô nhiễm chéo, chỉ sử dụng các hóa chất tinh khiết. Dung dịch pha loãng cần được bảo quản
trong chai PFA, FEP-fluorocacbon, HDPE hoặc PP sạch. Đối với nồng độ dưới 1 mg/l, độ bền bị hạn
chế và phải kiểm tra.
6.9. Dung dịch tham chiếu nguyên tố
Sc, Y hoặc Lu thường được sử dụng làm chuẩn tham chiếu (chuẩn nội). Nồng độ 5 mg/l trong dung
dịch axit nitric (6.3) được sử dụng, Nồng độ này phải được thêm vào dung dịch hiệu chuẩn trắng,
dung dịch kiểm soát chất lượng và dung dịch thử.
7. Thiết bị
Máy phổ phát xạ nguyên tử ICP gồm hệ thống đưa mẫu, plasma (làm nguồn kích thích), một hệ thống
quang, một detector và một máy tính. Hệ thống bơm mẫu thường gồm bơm ống quay để chuyển mẫu
vào bộ tạo sương, bộ tạo sương và buồng phun. Phần lớn bộ tạo sương thông thường là bộ tạo
sương đồng tâm [ví dụ Meinhardt2)], bộ tạo sương dòng ngang, bộ tạo sương rãnh V (Babington 3)] có
khả năng tự hút cho cả hai, nhưng thường được sử dụng bơm để hỗ trợ cho việc chuyển mẫu. Chúng
được làm từ thủy tinh, thạch anh hoặc nhựa.
Cũng có nhiều kiểu buồng phun được áp dụng trong hệ thống có bán sẵn. Phần lớn các loại thông
thường, bên cạnh kiểu tác động hạt và kiểu xoáy, là loại Scott4) khi hai ống đồng tâm phân tách các
hạt lớn ra khỏi sol khí mịn được đưa vào đuốc plasma.
Đuốc gồm ba ống đồng tâm [Loại Fassel5)]. Vật liệu thường được sử dụng là thạch anh. Ống chuyển
mẫu hoặc ống bơm mẫu có thể làm bằng vật liệu chịu axit HF, ví dụ oxit nhôm hoặc platin. Tốc độ
dòng khí plasma và tốc độ dòng khí bổ trợ tùy thuộc vào kiểu cấu trúc và nằm trong khoảng 10 l/min
đến 20 l/min và 0 l/min đến 3 l/min, tương ứng.
Đoạn cuối của đuốc lõi được làm mát bằng nước được đặt 5 cánh, qua cánh này dòng điện đi tới bộ
kích thích plasma. Tần số được sử dụng do nhà sản xuất thay đổi từ 27 MHz đến 56 MHz với điện
năng từ 600 W đến 2000 W.
Phát xạ từ plasma có thể được quan sát hoặc từ một phía (hình chiếu tỏa tròn) hoặc từ tâm của đuốc
(hình chiếu quanh trục). Đối với nhiều nguyên tố, thiết bị cho hình chiếu quanh trục cung cấp giới hạn
phát hiện thấp hơn (đến hệ số 10, nhưng một số nhiễu có thể thấp hơn).
Vạch phổ được đo và được đăng ký theo cách tiếp sau hoặc đồng thời. Sử dụng thiết bị đa sắc kiểu
cổ điển cũng như thiết bị điều khiển bằng máy tính.
CHÚ THÍCH 1: Việc đăng ký bằng máy tính những cường độ ánh sáng do một vài vạch nguyên tố
được chuyển đổi thành nồng độ sử dụng phần mềm phù hợp do nhà sản xuất thiết bị cung cấp.
CHÚ THÍCH 2: Chi tiết về kết cấu thiết bị khác nhau có thể xem trong Tài liệu tham khảo [9], [10], [11].
8. Cách tiến hành
2)
Meinhardt là ví dụ về sản phẩm thương mại phù hợp. Thông tin này được đưa ra chỉ tạo thuận lợi
cho người sử dụng tiêu chuẩn và không phải là xác nhận của tiêu chuẩn về sản phẩm này.
Babington là ví dự về sản phẩm thương mại phù hợp. Thông tin này được đưa ra chỉ tạo thuận lợi
cho người sử dụng tiêu chuẩn và không phải là xác nhận của tiêu chuẩn về sản phẩm này
3)
4)
Scott là ví dụ về sản phẩm thương mại phù hợp. Thông tin này được đưa ra chỉ tạo thuận lợi cho
người sử dụng tiêu chuẩn và không phải là xác nhận của tiêu chuẩn về sản phẩm này.
5)
Fassel là ví dụ về sản phẩm thương mại phù hợp. Thông tin này được đưa ra chỉ tạo thuận lợi cho
người sử dụng tiêu chuẩn và không phải là xác nhận của tiêu chuẩn về sản phẩm này.
8.1. Làm sạch dụng cụ thủy tinh
Tất cả dụng cụ thủy tinh được sử dụng trong xác định nồng độ nguyên tố vết phải được làm sạch cẩn
thận trước khi dùng, ví dụ bằng cách nhúng trong dung dịch axit nitric 5 % (v/v) trong tối thiểu 6 h, sau
đó tráng lại bằng nước (6.1) trước khi sử dụng. Axit nitric phải được thay mới hàng tuần.
8.2. Thông số tính năng thiết bị
Do sự khác nhau giữa các loại thiết bị, không có hướng dẫn chi tiết để vận hành thiết bị cụ thể.
Hướng dẫn do nhà sản xuất cung cấp về thời gian chờ, độ ổn định của thết bị, tốc độ dòng khí, điều
kiện plasma, điều kiện tạo sương, tốc độ nạp mẫu,... phải được tuân thủ.
Thông số tính năng dưới đây phải được đánh giá với nồng độ nền mẫu điển hình:
- Lựa chọn bước sóng phân tích phù hợp;
- Dải đo và độ tuyến tính;
- Độ ổn định dài hạn và ngắn hạn, độ lệch chuẩn tương đối của phép đo (RSD);
- Giới hạn phát hiện của phương pháp đối với mỗi chất phân tích và từng loại mẫu (MDL);
- Kiểm định hiệu chính giữa các nguyên tố;
- Kiểm định thường nhật đối với hiệu chính nhiễu phổ;
- Thời gian xả mẫu và xả dung dịch tiêu chuẩn;
- Nồng độ tương đương nền (BEC).
- Tính năng của thiết bị đo phải được kiểm tra với dung dịch kiểm soát chất lượng phù hợp trước khi
đo mẫu thử (điều chỉnh)
8.3. Tối ưu hóa thiết bị
Hướng dẫn của nhà sản xuất về điều kiện vận hành phải được tuân thủ để đánh giá tỉ số tín hiệu theo
nền của nguyên tố nhạy ít nhất, như As, Se. Pb và TI. Tất cả tốc độ khi phải ổn định và được kiểm
soát, ví dụ với bộ điều chỉnh lưu lượng dòng.
8.4. Điều chỉnh máy đo phổ
8.4.1. Khái quát
Lắp đặt thiết bị theo hướng dẫn của nhà sản xuất và đốt cháy plasma. Kiểm định cấu hình thiết bị và
tiêu chí tính năng thỏa mãn với yêu cầu về an toàn và phân tích (ví dụ điều kiện môi trường phòng thí
nghiệm, điện năng, yêu cầu hút khí). Plasma phải được ổn định nhiệt trước khi bắt đầu đo (thường
thời gian ổn định ít nhất là 30 min trước khi hiệu chuẩn).
8.4.2. Xây dựng phương pháp sử dụng phần mềm và chọn bước sóng
Xây dựng phương pháp theo hướng dẫn của nhà sản xuất thiết bị. Chọn vạch phổ dựa trên thông tin
(giới hạn phát hiện, nhiễu phổ) được nêu trong tài liệu (ví dụ tuyển tập về vạch phát ra), thư viện phổ
của máy đo phổ và trong tiêu chuẩn (Bảng 1 và Bảng B.1 đến B.3).
CHÚ THÍCH: Thông tin được đưa ra làm hướng dẫn để xác định nhiễu tiềm ẩn. Các thiết bị khác với
độ phân giải phổ có thể cho nhiễu khác nhau.
Khi làm việc với những nền mẫu chưa biết, kiểm tra bước sóng của từng nguyên tố được đo về khả
năng nhiễu bằng nghiên cứu khu vực của vạch phổ. Nếu xảy ra nhiễu phổ (chồng vạch phổ từng
phần, chồng vạch ngẫu nhiên), phép đo phải được tiến hành tại bước sóng khác. Nếu không thực
hiện được, cần tiến hành hiệu chính nhiễu bằng quy trình hiệu chính toán học (ví dụ kỹ thuật hiệu
chính liên nguyên tố, làm phù hợp phổ đa thành phần).
Hiệu chính nền được yêu cầu khi xác định nguyên tố vết với ICP-AES. Nền phải được đo liền kề với
vạch của chất phân tích trong mẫu trong phân tích. Vị trí đã chọn đối với phép đo cường độ nền, trên
một hoặc cả hai phía của vạch chất phân tích, được xác định do tính phức tạp của phổ liền kề với
vạch của chất phân tích. Vị trí phải không nhiễu phổ và phản ánh giống với những thay đổi trong
cường độ nền giống với những sự thay đổi xảy ra tại bước sóng chất phân tích được đo.
8.4.3. Hiệu chính bước sóng, tối ưu hóa điều kiện phép thử
Con mắt quang của thiết bị thường đòi hỏi hiệu chuẩn bước sóng (ví dụ sao chép lại bằng sử dụng
vạch tham chiếu hoặc bằng cách tính giá trị/lượng bù đắp của vạch phổ thiết lập) sau khi bật ICPAES. Qui trình này vốn có sẵn trong thiết bị khi sử dụng, và do vậy phải tuân thủ theo thực hành
khuyến nghị của nhà sản xuất.
Mục đích của tối ưu hóa điều kiện đo là tìm được độ nhạy tốt nhất và độ đúng tốt nhất để thiết lập
vạch sử dụng. Hiệu suất phát xạ có liên quan, trong các thông số khác, đến nhiệt độ plasma là một
hàm số của năng lượng RF, tốc độ khí argon và chiều cao quan sát (đối với plasma bức xạ). Loại thiết
bị tạo sương và tốc độ mẫu lấy cũng có ảnh hưởng lên tín hiệu và nền. Tối ưu hóa đối với phân tích
đa nguyên tố liên quan đến sự thay đổi trong các thông số mà có ảnh hưởng đến cường độ của tín
hiệu và nền (ví dụ năng lượng RF), dẫn đến điều kiện lỗi hỏng. Đối với quy trình đặc biệt (ví dụ điều
chỉnh vị trí quan sát plasma), tham khảo sổ tay hướng dẫn của nhà sản xuất thiết bị.
8.4.4. Độ ổn định dài hạn
Đánh giá độ ổn định dài hạn (một ngày, vài giờ) là phép đo độ trôi của thiết bị. Quy trình thông thường
là để bù đắp độ trôi bằng kỹ thuật nguyên tố tham chiếu (sử dụng chuẩn nội). Độ trôi có thể được phát
hiện bằng phân tích dung dịch hiệu chuẩn hoặc mẫu kiểm soát chất lượng tại khoảng thời gian đều
đặn giữa các mẫu. Với các giá trị đo được này, độ trôi thiết bị có thể được bổ chính bằng quy trình
toán học. Từng cách phản hồi đối với từng thiết bị phải được kiểm tra.
8.4.5. Kiểm tra thiết bị sơ bộ
Độ tái lập và độ nhạy của hệ thống phải được kiểm tra hàng ngày. Độ đúng của phép đo lặp phải dưới
RSD 1 %.
CHÚ THÍCH: Việc kiểm tra này có thể thực hiện bằng cách đo dung dịch mangan 1 mg/l với tối thiểu
là lặp lại năm lần, thời gian tích hợp đã chọn.
Điều kiện tạo sương, tốc độ dòng của bơm nhu động, tốc độ dòng khí, chiều cao quan sát, điều kiện
đuốc, v.v... phải được kiểm soát trước khi đo mẫu.
8.5. Phương pháp hiệu chuẩn
Có ba kỹ thuật hiệu chuẩn gồm:
a) Phương pháp hiệu chuẩn tiêu chuẩn có hoặc không làm phù hợp nền mẫu trong dung dịch hiệu
chuẩn;
b) Phương pháp xếp;
c) Phương pháp thêm chuẩn.
Quan trọng nhất là phương pháp hiệu chuẩn chuẩn khi cường độ phát xạ ánh sáng của vạch chất
phân tích được đo trong dung dịch hiệu chuẩn và dung dịch mẫu thử. Dựa vào đường cong hiệu
chuẩn tuyến tính, nồng độ được tính trong dung dịch mẫu chưa biết. Độ tuyến tính của dải nồng độ
phải được kiểm tra để thiết lập dải nồng độ chuẩn. Nguyên tố kiềm vạch những vạch riêng từ đường
cong hiệu chuẩn không tuyến tính, do hiệu ứng ion hóa và tự hấp thụ, và có thể được tính bằng
đường cong thứ hai vừa khít với đường hồi quy phù hợp.
Dung dịch tiêu chuẩn hiệu chuẩn phải được chuẩn bị mới khi phân tích từng lô mẫu thử. Tất cả dung
dịch axit, muối, đệm, chất tẩy và cơ cấu chất có trong dung dịch mẫu thử cũng phải có trong dung
dịch hiệu chuẩn với cùng nồng độ. Nên sử dụng các nguyên tố chuẩn, và được bổ sung vào dung
dịch hiệu chuẩn. Nguyên tố chuẩn phải không có trong mẫu. Do vậy, nồng độ rất thấp hoặc nồng độ
có thể bỏ qua phải có nguyên gốc trong dung dịch chiết hoặc dung dịch phá mẫu.
Tối thiểu bốn dung dịch hiệu chuẩn với nồng độ chất phân tích cách đều nhau phải phủ được dải hiệu
chuẩn. Nếu chỉ áp dụng quy trình hiệu chuẩn hai điểm, sử dụng dung dịch hiệu chuẩn trắng và dung
dịch chuẩn hiệu chuẩn cao, độ tuyến tính cần phải được kiểm tra. Độ chính xác của nồng độ dung
dịch hiệu chuẩn cũng cần được đảm bảo.
Trong dịch chiết đất, đặc biệt trong dịch chiết đất cường thủy, các nguyên tố thường có mặt như AI,
Na, K, Ca, Mg, Ti và Fe có thể cùng được chiết, dẫn đến nồng độ nguyên tố có thể lên đến vài trăm
mg/l. Hiệu suất của phương pháp đã chọn để bù đắp chất nhiễu phổ, bù trừ nền, chất nhiễu do vận
chuyển phải được kiểm tra bằng cách phân tích mẫu kiểm soát và mẫu kiểm soát nhiễu. Mặt khác
nguyên tố nền trong mẫu có thể được làm phù hợp với dung dịch hiệu chuẩn cho từng lô của các loại
mẫu. Nếu không thực hiện được, cần sử dụng phương pháp thêm chuẩn.
8.6. Chuẩn bị dung dịch
8.6.1. Khái quát
Có hai loại dung dịch trắng được yêu cầu cho phân tích: dung dịch trắng hiệu chuẩn (8.6.2) và dung
dịch thử trắng (8.6.3) được chuẩn bị trong quá trình thử mẫu.
8.6.2. Dung dịch hiệu chuẩn trắng
Dung dịch này được chuẩn bị bằng cách thêm cùng lượng axit, nồng độ dung dịch đệm hoặc nồng độ
muối như trong dung dịch hiệu chuẩn và dung dịch mẫu thử. Lượng vừa đủ được chuẩn bị để xả hệ
thống trong giai đoạn giữa dung dịch tiêu chuẩn và mẫu và được dùng làm mẫu kiểm soát chất lượng.
Nếu nguyên tố chuẩn được áp dụng, thêm cùng nồng độ như đã dùng trong dung dịch tiêu chuẩn và
mẫu thử (5 mg/l).
8.6.3. Dung dịch thử trắng
Dung dịch này được chuẩn bị trong quá trình chiết hoặc hòa tan mẫu. Tiến hành thử trắng tại cùng
thời điểm như quy trình chiết hoặc hòa tan mẫu đất và phải tuân theo quy trình xử lý mẫu, sử dụng
cùng một lượng tất cả thuốc thử để xác định, nhưng bỏ qua phần mẫu thử. Nếu nguyên tố chuẩn
được dùng, thêm cùng nồng độ như trong dung dịch chuẩn và mẫu.
Tiến hành thử trắng tại cùng thời gian với quá trình chiết hoặc phá mẫu đất, theo cùng qui trình.
8.6.4. Dung dịch hiệu chuẩn
Chuần bị dung dịch hiệu chuẩn hỗn hợp có nồng độ phủ toàn bộ dải nồng độ được đo bằng cách kết
hợp thể tích phù hợp các dung dịch gốc trong bình định mức. Chú ý khi chuẩn bị dung dịch hiệu
chuẩn hỗn hợp cần đảm bảo các nguyên tố tương thích và bền như nhau. Thêm thể tích thích hợp
dung dịch axit và/hoặc dung dịch được dùng để chiết mẫu đất sao cho thành phần nền mẫu của dung
dịch hiệu chuẩn tương ứng với thành phần nền mẫu của dung dịch mẫu. Thêm nước hoặc axit đến
vạch mức để điều chỉnh độ axit bằng với độ axit trong dung dịch mẫu.
Nên làm phù hợp nền mẫu của dung dịch hiệu chuẩn trắng và dung dịch hiệu chuẩn liên quan đến
thành phần chính như AI, Ca, Fe, K, Mg và Na, nếu nồng độ các nguyên tố này có trong dung dịch
mẫu ở mức cao.
Sc, Y hoặc Lu thường được sử dụng làm chuẩn nội. Nếu kỹ thuật nguyên tố chuẩn được áp dụng,
chuẩn nội được thêm vào tất cả các dung dịch hiệu chuẩn, dung dịch kiểm soát chất lượng và dung
dịch mẫu, sao cho tất cả dung dịch chứa nguyên tố chuẩn có cùng nồng độ.
8.6.5. Dung dịch mẫu thử
Tiến hành chuẩn bị mẫu theo ISO 11566, ISO 14870, ISO 14869-1 hoặc ISO 14869-2 hoặc các tiêu
chuẩn khác, nếu phù hợp để có được dung dịch mẫu thử.
8.7. Quy trình đo
Sau khi ổn định thiết bị và kiểm định điều kiện ổn định (8.4), tiến hành do dung dịch hiệu chuẩn trắng
và các dung dịch hiệu chuẩn, dung dịch kiểm định hiệu chuẩn, dung dịch thử trắng và dung dịch mẫu,
dung dịch kiểm soát chất lượng. Thời gian xả giữa các dung dịch phải đủ dài để không làm nhiễm bẩn
dung dịch tiếp sau.
Nhiệt độ của tất cả dung dịch hiệu chuẩn, kiểm soát chất lượng và dung dịch thử phải nằm trong
khoảng sai khác 2 °C của từng dung dịch khác tại thời điểm đo ICP-AES.
Sau thời gian trễ đủ dài (tùy thuộc vào độ ổn định tốc độ dòng mẫu), đọc và ghi cường độ phát xạ của
dung dịch ít nhất hai lần và nếu giá trị nằm trong dải đo chấp nhận được, tính trung bình các giá trị.
CHÚ THÍCH: Định nghĩa của dải chấp nhận được là nằm ngoài phạm vi của tiêu chuẩn này. Tuy
nhiên, người sử dụng xem xét Điều 4 liên quan đến quy trình kiểm soát chất lượng. Bất kể cơ sở kiểm
soát chất lượng trong phòng thí nghiệm là như thế nào, cần phải phù hợp với thực hành tốt, như
những thực hành dựa trên vật liệu chuẩn được chứng nhận, vật liệu chuẩn trong phòng, kiểm định độ
chính xác hiệu chuẩn, tốc độ thu hồi của mẫu đã thêm chuẩn, kiểm tra độ tuyến tính, biểu đồ kiểm
soát và các biện pháp khác.
Nếu một loại mẫu chưa biết được xử lý, xác định nồng độ nguyên tố bằng phương pháp thêm chuẩn.
Nếu kết quả phân tích theo phương pháp thêm chuẩn và phương pháp hiệu chuẩn là bằng nhau,
phương pháp đường cong hiệu chuẩn có thể được áp dụng.
9. Tính kết quả
Bằng cách tham chiếu đến đồ thị hiệu chuẩn thu được, phần mềm tính nồng độ của từng nguyên tố
tương ứng với cường độ của dung dịch mẫu thử (xem 8.6.5) và dung dịch thử trắng (8.6.3). Tính
phần khối lượng (w) của nguyên tố (E) của mẫu đối với từng nguyên tố sử dụng Công thức (1):
wE
(
0)
1
m
.f .V .C
(1)
Trong đó
WE là phần khối lượng của nguyên tố E trong mẫu, tính bằng miligam trên kilogam chất khô;
1
là nồng độ nguyên tố, tương ứng với dung dịch mẫu thử, tính bằng miligam trên lít;
2
là nồng độ nguyên tố tương ứng với dung dịch thử trắng, tính bằng miligam trên lít;
f là hệ số pha loãng của mẫu thử, nếu áp dụng;
V là thể tính của phần mẫu thử được lấy để phân tích, tính bằng mililit, ví dụ 100 ml dịch chiết cường
thủy theo TCVN 6649 (ISO 11466);
m là khối lượng mẫu, tính bằng gam;
C là hệ số nồng độ đối với mẫu đất khô, C = 100/wdm;
wdm là lượng chất khô trong đất, tính bằng phần trăm khối lượng (%) theo ISO 11465.
10. Độ đúng
Phép thử liên phòng thí nghiệm tiến hành ở Hà Lan trong năm 2005 thu được số liệu nêu trong Bảng
A.1. Bảng A.2 và A.3 nêu dữ liệu từ phép thử hiệu suất tiến hành ở Đức năm 2004 và 2005. Độ lặp lại
và độ tái lập được tính theo nguyên tắc trong TCVN 6910-2 (ISO 5725-2).
11. Biểu thị kết quả
Độ không đảm bảo đo được báo cáo cho kết quả phải phản ánh kết quả từ phép đo kiểm soát chất
lượng và kết hợp với độ lệch giữa từng số đọc đối với mẫu. Nói chung, giá trị phải không thể hiện độ
đúng lớn hơn ba chữ số có nghĩa. Làm tròn giá trị sẽ phụ thuộc vào thống kê
của quy trình kiểm
soát chất lượng đã nêu trước, và các yêu cầu của phân tích.
VÍ DỤ
wCd = 8,54 mg/kg
wCd = 12,6 mg/kg
12. Báo cáo thử nghiệm
Báo cáo thử phải gồm các thông tin sau:
a) Viện dẫn tiêu chuẩn này;
b) Nhận dạng đầy đủ mẫu thử;
c) Viện dẫn phương pháp sử dụng;
d) Kết quả của phép xác định;
e) Mọi chi tiết không quy định trong tiêu chuẩn này hoặc tùy chọn cũng như các yếu tố có thể ảnh
hưởng đến kết quả.
Phụ lục A
(tham khảo)
Kết quả độ lặp lại và độ đúng
Bảng A.1 - Kết quả độ lặp lại và độ đúng đối với xác định các nguyên tố vết trong dịch chiết đất
cường thủy đo bằng ICP-AES
Mẫu
Nguyên tố
Nlab
Nres
wE
Vr
VR
Sr
SR
PD 152b
As
8
474
43,4
6,2
9,5
2,7
4,1
PD 152b
Ba
7
406
800,0
6,0
9,1
48
73
PD 152b
Cd
8
475
8,0
5,8
8,0
0,5
0,6
PD 152b
Co
6
357
18,4
7,4
9,8
1,4
1,8
PD 152b
Cr
8
474
180
7,0
8,9
13
16
PD 152b
Cu
8
475
154
5,5
7,1
8
11
PD 152b
Ni
8
476
52
6,4
8,9
3,3
5
PD 152b
Pb
8
454
268
5,2
8,7
14
23
PD 152b
Zn
8
475
969
5,4
7,2
52
69
Nlab là số phòng thí nghiệm sau khi loại trừ các phòng thí nghiệm bên ngoài;
Nres là số kết quả;
wE là hàm lượng của nguyên tố E trong mẫu, tính bằng miligam trên kilogam (mg/kg) chất khô;
Vr là độ lệch chuẩn lặp lại tương đối, tính bằng phần trăm (%);
VR là độ lệch chuẩn tái lập tương đối, tính bằng phần trăm (%);
Sr là giới hạn lặp lại, tính bằng miligam trên kilogam (mg/kg);
SR là giới hạn tái lập, tính bằng miligam trên kilogam (mg/kg).
Bảng A.2 - Độ lặp lại và độ đúng của BAM 10 PT-scheme 2004 đối với xác định các nguyên tố
vết trong dịch chiết đất cường thủy đo bằng ICP-AES, được tính theo TCVN 6910-2 (ISO 57252)
Mẫu
Nguyên tố
Nlab
Nres
wE
Vr
VR
Sr
SR
10-N1
As
32
64
32,9
2,2
12,2
0,71
4,01
10-N2
As
24
48
28,6
2,3
7,1
0,66
2,02
10-N3
As
56
112
15,9
2,6
7,2
0,41
1,15
10-N1
Cd
34
68
25,7
1,6
6,2
0,4
1,58
10-N2
Cd
31
62
21,2
2,6
6,4
0,54
1,35
10-N3
Cd
53
106
0,45
5,8
21,2
0,026
0,095
10-N1
Cr
48
96
395
1,6
8,3
6,4
32,74
10-N2
Cr
40
80
311
2,0
6,1
6,07
19,01
10-N3
Cr
87
174
124
2,5
9,0
3,09
11,11
10-N1
Cu
45
90
599
1,3
4,2
7,7
24,91
10-N2
Cu
40
80
784
1,4
5,0
10,94
39,16
10-N3
Cu
90
184
79
3,3
12,0
2,61
9,41
10-N1
Ni
46
92
206
2,0
5,9
4,02
12,2
10-N2
Ni
39
78
169
2,0
6,0
3,47
10,18
10-N3
Ni
84
168
32
3,7
23,5
1,17
7,52
10-N1
Pb
41
82
261
1,6
5,8
4,04
15,2
10-N2
Pb
39
78
235
2,5
6,4
5,79
15,06
10-N3
Pb
87
174
201
3,3
7,1
6,61
14,2
10-N1
Zn
45
90
248
1,5
6,9
35,89
170,4
10-N2
Zn
39
78
2113
2,0
6,0
41,4
127,52
10-N3
Zn
89
178
203
2,5
6,4
5,13
12,93
Nlab là số phòng thí nghiệm sau khi loại trừ các phòng thí nghiệm bên ngoài;
Nres là số kết quả;
wE là hàm lượng của nguyên tố E trong mẫu, tính bằng miligam trên kilogam (mg/kg) chất khô;
Vr là độ lệch chuẩn lặp lại tương đối, tính bằng phần trăm (%);
VR là độ lệch chuẩn tái lập tương đối, tính bằng phần trăm (%);
Sr là giới hạn lặp lại, tính bằng miligam trên kilogam (mg/kg);
SR là giới hạn tái lập, tính bằng miligam trên kilogam (mg/kg).
Bảng A.3 - Độ lặp lại và độ đúng của BAM 11 PT-scheme 2005 đối với xác định các nguyên tố
vết trong dịch chiết đất cường thủy đo bằng ICP-AES, được tính theo TCVN 6910-2 (ISO 57252)
Mẫu
Nguyên tố
Nlab
Nres
wE
Vr
VR
Sr
SR
11-N1
As
62
124
5,9
4,3
27,7
0,25
1,62
11-N2
As
27
54
3,9
4,0
14,8
0,156
0,574
11-N3
As
38
74
2,7
5,7
25,3
0,156
0,689
11-N1
Cd
90
180
12,1
2,0
6,7
0,24
0,81
11-N2
Cd
47
94
8,0
2,1
6,6
0,166
0,522
11-N3
Cd
43
86
6,3
2,1
9,9
0,135
0,624
11-N1
Cr
96
192
899
1,5
6,4
13,09
57,53
11-N2
Cr
51
102
461
2,1
6,0
9,88
27,86
11-N3
Cr
46
92
253
2,9
8,2
7,38
20,77
11-N1
Cu
96
192
271
1,7
5,4
4,67
14,72
11-N2
Cu
49
98
144
1,8
5,9
2,59
8,56
11-N3
Cu
46
92
87
2,8
7,3
2,43
6,29
11-N1
Mn
100
200
83
2,4
9,3
1,97
7,73
11-N2
Mn
53
106
54
2,7
10,6
1,43
5,72
11-N3
Mn
45
90
43
2,9
18,0
1,21
7,64
11-N1
Ni
93
196
43,0
1,8
7,1
0,77
3,07
11-N2
Ni
51
102
25,3
2,7
8,3
0,67
2,09
11-N3
Ni
44
88
17,4
2,4
8,8
0,416
1,52
11-N1
Pb
94
188
227
1,8
7,7
4,03
17,56
11-N2
Pb
48
96
149
2,3
7,9
3,36
11,79
11-N3
Pb
46
92
104
3,0
9,0
3,18
9,42
11-N1
Zn
97
194
690
1,8
6,5
12,06
44,91
11-N2
Zn
50
100
419
2,0
6,5
8,27
27,15
11-N3
Zn
46
92
273
2,4
9,5
6,64
25,81
Nlab là số phòng thí nghiệm sau khi loại trừ các phòng thí nghiệm bên ngoài;
Nres là số kết quả;
wE là hàm lượng của nguyên tố E trong mẫu, tính bằng miligam trên kilogam (mg/kg) chất khô;
Vr là độ lệch chuẩn lặp lại tương đối, tính bằng phần trăm (%);
VR là độ lệch chuẩn tái lập tương đối, tính bằng phần trăm (%);
Sr là giới hạn lặp lại, tính bằng miligam trên kilogam (mg/kg);
SR là giới hạn tái lập, tính bằng miligam trên kilogam (mg/kg).
Phụ lục B
(tham khảo)
Chất gây nhiễu
Số liệu về chất gây nhiễu được đưa ra trong Bảng B.1 đến B.3.
Để thu được số liệu trong Bảng B.1 đến B.2, sử dụng thiết bị Perkin-Elmer Optima 3000 với độ phân
giải phổ 0,006 nm tại 200 nm để nghiên cứu. Hiện tượng chồng vạch ngẫu nhiên tùy thuộc vào độ
phân giải phổ của thiết bị, chỉ có thể phát hiện được khi nồng độ nguyên tố gây nhiễu và chất phân
tích đạt tới mức tới hạn.
Số liệu nêu trong Bảng B.3 như đại lượng đương tương nồng độ chất phân tích thu được trên thiết bị
Varian Vista-PRO trong điều kiện chuẩn với plasma trục. Mỗi phòng thí nghiệm phải xác định các hình
ảnh, khi cần, cho các áp dụng cụ thể của phương pháp, vì chất gây nhiễu bị ảnh hưởng bởi việc chọn
hiệu chính nền và thường phụ thuộc nhiều vào điều kiện vận hành và vị trí plasma.
Bảng B.1 - Nhiễu phổ
Nguyên
tố
Chồng phổ
nm
Nguyên tố Mô tả nhiễu
gây nhiễu
As
Dịch chuyển nền
193,696
As
197,197
Cd
214,438
Fe
Chồng vạch
với Fe
214,445 nm
Nguyên tố
gây nhiễu
Độ phân giải thấp:
nhiễu tiềm ẩn
Mô tả nhiễu Nguyên tố Mô tả nhiễu
gây nhiễu
Al
Tạo độ dốc dịch
chuyển BGa
V
BG mạnh do
vạch tại 193,68
Fe
nm
Ca, Mg, Ti
BG mạnh
Cr, Fe, Mn,
Mo
BG
Al, Ca, Mg
BG mạnh
Cr, Cu, Fe,
Mo, Ti, V
BG
Ca, Cr, Cu,
Ni
BG thấp
Vạch tại
193,663 nm
As
Vạch tại
214,410 nm
Fe
Các vạch tại
214,390 nm
và 214,519
nm
Mo
Vạch tại
214,407 nm
Cd
Cd
Co
V
Vạch tại
214,371 nm
BG do các vạch
gần 226,446 nm Fe
và 226,535 nm
Các vạch tại
226,439 nm,
226,459 nm
và 226,599
nm
BG thấp
Fe
Trung vạch
với Fe
226,505
Ti
Đè vạch một
phần với Ti Al, As, Ca
226,514 nm
Mo
Vạch tại
226,474 nm
As
BG do các vạch
Chồng vạch
Ni
tại 228,765 nm
một phần với
và 228,839 nm Fe
As 228,812
nm
Ca, Mg, Ti, V BG
Vạch tại
228,763 nm
Ni
Chồng vạch
với Nib
226,502
228,802
Ti
Các vạch tại
214,361 nm
và 214,390
nm
228,616
Ti
Ni
Al, Ca, Cu,
Fe,
BG
Mg, Mn, Ti, V
Chồng vạch
với Ti 228,618 Cr
nm
BG do các vạch
gần đó
Al, Ca, Cr,
Cu.
Co
Co
Cr
230,786
238,892
Ni
BG
Cr
Chồng vạch
Mg, Mn, Ti, V
một phần với
Ni 230,779
Dịch chuyển độ
nm
dốc nền do
Fe
Ni
vạch tại
230,731 nm
Fe
Chồng vạch
một phần với
Fe 238,863
nm
Ni
Chồng vạch
với Ni
238,892 nm
V
Chồng vạch
với V 238,892
nm
Mo
Chồng vạch
một phần với
Fe
Mo 205,567
nm
BG do vạch tại
205,529 nm
Ni
Chồng vạch
một phần với AI, Ca, Mg,
Ni 205,550
Mn, Ti, V
nm
BG
Chồng vạch
một phần với Al, Ca, Fe,
Zn 206,200 Mg, Ti, V
nm
BG thấp
Chồng vạch Mo
một phần với
Mn 267,725
BG và chồng
Fe
cánh do vạch tại
267,648 nm
205,552
Cr
206,149
Zn
Cr
267,716
Mn
Ca, Cr, Cu,
Mg, Mn, Ti
Vạch tại
230,72 nm
Vạch tại
230,817 nm
BG thấp
Các vạch tại
267,611 nm,
267,688 nm
V
Dịch chuyển độ
dốc nền do
vạch tại
267,780 nm
Al, Ca, Fe,
Mg, Ni, Ti
BG
nm
Fe
Cu
224,700
Ti
Cu
Cu
Mn
Mn
Chồng vạch
với Fe
224,691 nm
Al, Ca, Mg,
Mn, Ni, V
và 267,805
nm
Fe
Các vạch tai
224,746 nm
và 224,769
nm
Ni
Vạch tại
224,723 nm
gần đỏb
Fe
Chồng cánh
với các vạch
tại 324,696
nm, 324,717
nm và
324,739 nm;
vạch tại
324,821 nm
Cr
Chồng cánh
với vạch tại
324,727 nm
(tại 500 mg/l)
V
Vạch tại
khoảng
324,72 nmb
Ca
Chồng cánh
với vạch tại
327,396 nm
(tại 500 mg/l)
Fe
Vạch tại
327,445 nm
gần đó
Ti
Chồng cánh
với vạch tại
327,405 nm;
vạch tại
327,529 nm
(tại 500 mg/l)
V
Các vạch ở
khoảng
327,42 nm
và 327,44
nmb
Al
Vạch tại
257,510 nm
Cr
Vạch tại
257,510 nm
Fe
Vạch tại
257,574 nm
V
Vạch tại
257,729 nm
Co
Vạch tại
260,612 nm
Fe
Các vạch tại
BG
Chồng vạch b
Ca, Fe, Mn,
BG
Ti, V
324,754
Al, Cr, Mg,
Mn, Ti, V
327,396
257,670
Co, Fe
260,568
Co
Chồng vạch
với Co
260,568 nm
Cr
Chồng vạch
Fe
BG
BG thấp
BG
260,565 nm
và 260,542
nm
với Cr
260,561 nm
Mn
Mn
Mn
279,482
Mo
Chồng vạch
một phần với
Mo 260,593
nm
Mg
Chồng vạch
với Mg
279,553 nm
Mo
Chồng vạch
một phần với Co, Cr, Mo,
Mo 279,457 Ti
nm
BG
V
Chồng vạch
Fe
với V 279,483
BG do các vạch
tại 279,470 nm,
279,500 nm và
279,554 nm
Cr
Chồng vạch
một phần với
Cr 294,944
nm
Fe
Chồng vạch
với Fe
294,921 nm
294,92
Ti
Ca
Cr, Mg, Mo,
BG
Ti
V
Vạch tại
279,430 nm
V
Vạch tại
294,963 nm
Chồng vạch
một phần với
Mob
V
Chồng vạch
với V 294,917
nm
Cr
Chồng vạch
một phần với
Cr 403,068
nm
Cr
Vạch tại
403,113 nm
gần đó
Fe
Chồng vạch
một phần với
Fe 403,049
Al, Ca, V
nm
Mo
Vạch tại
402,994 nm
V
Vạch tại
403,122 nm
gần đó
403,075
Ti
BG nhỏ
Chồng vạch
một phần với
vạch Mo (?)
Chồng vạch
một phần với
Ti 403,051 nm
Fe
221,647
BG do các vạch
tại 221,706 nm
và khoảng
221,6 nm b
V
Al, Ca, Cr,
BG
Cu, Mg, Mn,
Ti, V
Ni
Các vạch ở
khoảng
279,53 nmb
và 279,55
nmb
Mo
Mo
Ni
Dịch chuyển độ
dốc nền do
Mo
vạch ở khoảng
279,55 nm
Vạch tại
260,515 nm
231,604
Fe
Al, Ca, Cu,
BG do các vạch V
tại 231,485 nm
và 231,738 nm
Vạch tại
221,603 nm
Vạch tại
231,563 nm
Mg, Mn, Ti, V
Cr
Ni
Pb
Pb
Pb
Pb
232,003
Chồng vạch
với Cr
232,008 nm
Fe
V
Chồng vạch
Al, Ca, Mg,
một phần với
Mn, Ti
V 232,016 nm
Fe
Chồng vạch
với Fe
216,995 nm
Mo
Chồng vạch
một phần với
Mo 217,02 nm
(?)
Ni
Chồng vạch
một phần với
Ni 216,961
Cu
nm
V
Chồng vạch
một phần với
V 216,985 nm
và V 217,007
nm
Co
Chồng vạch
một phần với
Al
Co 220,343
nm
Ti
Ca, Cu, Ni
Chồng vạch
một phần với Cr, Fe, Mg,
Ti 220,361 nm Mn, Mo, V,
Zn
216,999
220,353
Co
Chồng vạch
với Co 224,65
nm b
Cu
Chồng vạch
với Cu
224,700 nm
Fe
Chồng vạch
với Fe
224,691 nm
224,688
Mo
Chồng vạch
với Mo
224,695
Ti
Chồng vạch
một phần với
Ti 224,70 nm
(?)
261,418
Co
Fe
Chồng vạch
với Co
261,436 nm
Chồng vạch
với Fe
261,418 nm
BG mạnh do
các vạch tại
232,031 nm (có
thể chồng cánh)
và 231,854 nm Mn
BG
Al, Ca, Co,
Cr, Fe, Mg, BG mạnh
Mn, Ti, V, Zn
Al, Ca, Cr,
Mg, Mn, Ni,
Ti, V, Zn
Vạch tại
232,045 nm
Fe
Vạch tại
217,019 nm
Dịch chuyển độ
dốc nền do
Mo
vạch tại
216,953 nm
Vạch tại
216,951 nm
Độ dốc nền do
vạch tại
Co
220,463 nm
Vạch tại
220,296 nm
BG mạnh
BG thấp
BG mạnh
Al, Ni, Ti, Zn BG thấp
Cr
Các vạch tại
220,28 nmb
và 220,391
nm
Ni
Vạch tại
224,723 nm
gần đó
Al
Vạch tại
261,39 nm b
Cr
Các vạch tại
261,350 nm,
261,457 nm
và 261,463
nm gần đó
Mn
Các vạch tại
Ca, Cr, Cu, BG mạnh
Mg, Mn, Mo
261,359 nm
và 261,404
nm
Al, Co, Cu,
Ni, Zn
Pb
283,306
Fe
BG thấp
Chồng vạch
với Fe
283,310 nm
Ca, Cr, Mg,
BG mạnh
Mn, Mo, Ti, V
TI
TI
190,801
Co
Chồng vạch
một phần với
Al, Ca
Co 190,79 nm
(?)
Mo
Chồng vạch
Cr, Cu, Fe,
một phần với
Mg, Mn, Mo, BG
Mo 190,806
Ni, Zn
nm
BG mạnh
Dịch chuyển độ
dốc nền do
vạch ở khoảng
190,76 nm (?)
V
Chồng vạch
một phần với Ti
V 190,779 nm
Mn
Chồng vạch
Ca, Co, Cu,
với Mn 276,79
BG
Ti
b
nm
276,787
Ni
Chồng vạch
một phần với
Cr
Ni 276,76 nmb
Fe
Mg
Mo
Các vạch tại
261,372 nm
và 261,539
nm
Ni
Vạch tại
261,519 nm
Ti
Vạch tại
261,37 nmb
V
Các vạch tại
261,441 nm,
261,540 nm
và khoảng
261,40 nmb
Cr
Các vạch tại
283,246 nm,
283,279 nm
và 283,339
nm
Fe
Vạch tại
283,244 nm
Mo
Các vạch tại
283,266 nm
và 283,379
nm
Ti
Vạch tại
283,266 nm
(BG)
Mn
Vạch tại >
190,83 nm
(BG)
V
Vạch tại
190,768 nm
Al
Vạch tại
khoảng
276,75 nm
(?) gần đó
Dịch chuyển độ
dốc nền do
Cr
vạch tại
276,754 nm
Các vạch tại
276,728 nm
gần đó
Dịch chuyển độ
dốc nền do
Mn
vạch tại
276,752 nm
Vạch tại
276,745 nm
Dịch chuyển độ Ti
dốc nền do các
vạch tại khoảng
276,76 nmb,
276,835 nm,
Vạch tại
276,820 nm
gần đó
276,846 nm
Ti
TI
Mo
Nền cấu trúc do
các vạch tại
khoảng 276,76
nmb và 276,809
nm
V
BG do vạch tại
276,813 nm
Chồng vạch
với Ti 351,924 Ca
nm
Cr
Vạch tại
351,945 nm
gần đó
Co
Dịch chuyển độ
dốc nền do
Fe
vạch tại
351,835 nm
Vạch tại
351,888 nm
Cr, Fe, Mg,
Mn, Mo
BG
Ni
BG mạnh do
Mo
các vạch tại
351,863 nm cad
351,977 nm
351,924
V
Zn
202,548
Cr
Chồng vạch
một phần với
Mg
Cr 202,559
nm
Cu
Chồng vạch
với Cu
202,548 nm
Ni
213,856
Độ dốc nền do
vạch tại
202,582 nm
Mo
Al, Ca, Fe,
Chồng vạch Mn, Mo, Ti, V BG thấp
một phần với
Ni 202,538
nm
Vạch tại
khoảng
202,58 nmb
BG thấp
Cu
Chồng vạch
một phần với
Fe
Cu 213,853
nm
BG nhỏ do các
vạch tại
Ti
213,801 nm và
213,970 nm
Vạch tại
213,837 nm
Fe
Chồng vạch
với Fe
213,859 nm
V
Vạch tại
213,813 nm
Ni
Chồng vạch
với Ni
213,858 nm
206,191
Mo
Zn
Vạch tại
351,857 nm
Chồng vạch
một phần với
Zn 206,149
nm
Al, Ca, Fe,
Chồng vạch Mg, Ti, V
với vạch Mo
tại 500 mg/l
(b)
Cr
Zn
Chồng vạch
với 351,917
BG mạnh
Ca, Mg, Ti, V BG thấp
a
BG là độ dịch chuyển nền song song, trừ khi có quy định khác.
b
Không có vạch được nêu trong các bảng bước sóng
Bảng B.2 - Nồng độ chất phân tích được chọn tương đương từ nhiễu tại các mức 100 mg/l và
500 mg/l
Chất
phân
tích
nm
Nguyên tố
gây nhiễu
Nhiễu quang phổ
tương đương nồng độ chất phân tích
100 mg/l nguyên tố 500 mg/l nguyên tố
gây nhiễu
gây nhiễu
Cd
214,438
Fe
Chồng vạch
0,02 mg/l
0,10 mg/l
Cd
226,502
Fe
Chồng vạch
0,024 mg/l
0,12 mg/l
Cd
226,502
Ti
Chồng vạch một phần
0,03 mg/l
0,13 mg/l
Cd
228,802
As
Chồng vạch một phần
3,27 mg/l
15,18 mg/l
Co
228,616
Ti
Chồng vạch
0,18 mg/l
0,86 mg/l
Co
230,786
Ni
Chồng vạch một phần
0,71 mg/l
3,57 mg/l
Co
238,892
Fe
Chồng vạch một phần
0,87 mg/l
4,44 mg/l
Co
238,892
Ni
Chồng vạch
0,16 mg/l
0,76 mg/l
Co
238,892
V
Chồng vạch
0,06 mg/l
0,26 mg/l
Cr
205,559
Mo
Chồng vạch một phần
0,14 mg/l
0,72 mg/l
Cr
205,559
Ni
Chồng vạch một phần
0,21 mg/l
1,06 mg/l
Cr
267,716
Mn
Chồng vạch một phần
0,03 mg/l
0,18 mg/l
Cu
224,700
Fe
Chồng vạch
0,10 mg/l
0,53 mg/l
Cu
224,700
Ti
Chồng vạch
0,03 mg/l
0,13 mg/l
Cu
324,754
Cr
Chồng vạch một phần
0,002 mg/l
0,02 mg/l
Cu
327,396
Ti
Chồng vạch một phần
0,05 mg/l
0,25 mg/l
Mn
260,568
Co
Chồng vạch
0,10 mg/l
0,45 mg/l
Mn
260,568
Cr
Chồng vạch
0,02 mg/l
0,05 mg/l
Mn
260,568
Mo
Chồng vạch một phần
0,03 mg/l
0,12 mg/l
Mn
279,482
Mg
Chồng vạch
9,36 mg/l
38,56 mg/l
Mn
279,482
Mo
Chồng vạch một phần
0,04 mg/l
0,14 mg/l
Mn
279,482
V
Chồng vạch
0,25 mg/l
1,20 mg/l
Mn
294,920
Cr
Chồng vạch một phần
0,06 mg/l
0,26 mg/l
Mn
294,920
Fe
Chồng vạch
0,06 mg/l
0,23 mg/l
Mn
294,920
Mo
Chồng vạch một phần
0,02 mg/l
0,07 mg/l
Mn
294,920
V
Chồng vạch
0,57 mg/l
2,72 mg/l
Mn
403,075
Cr
Chồng vạch một phần
0,11 mg/l
0,53 mg/l
Mn
403,075
Fe
Chồng vạch một phần
0,011 mg/l
0,53 mg/l
Mn
403,075
Mo
Chồng vạch một phần
0,02 mg/l
0,06 mg/l
Mn
403,075
Ti
Chồng vạch một phần
0,73 mg/l
3,56 mg/l
Ni
232,003
Cr
Chồng vạch
2,77 mg/l
13,87 mg/l
Ni
323,003
V
Chồng vạch một phần
0,12 mg/l
0,48 mg/l
Pb
216,999
Fe
Chồng vạch
0,25 mg/l
1,19 mg/l
Pb
216,999
Mo
Chồng vạch một phần
1,77 mg/l
8,81 mg/l
Pb
216,999
Ni
Chồng vạch một phần
0,21 mg/l
1,01 mg/l
Pb
216,999
V
Chồng vạch một phần
0,36 mg/l
1,62 mg/l
Pb
220,353
Co
Chồng vạch một phần
0,26 mg/l
1,01 mg/l
Pb
220,353
Ti
Chồng vạch một phần
0,17 mg/l
0,39 mg/l
Pb
224,688
Co
Chồng vạch
0,31 mg/l
1,30 mg/l
Pb
224,688
Cu
Chồng vạch
5903 mg/l
28980 mg/l
Pb
224,688
Fe
Chồng vạch
6,28 mg/l
32,75 mg/l
Pb
224,688
Mo
Chồng vạch
7,04 mg/l
35,58 mg/l
Pb
224,688
Ti
Chồng vạch một phần
1,50 mg/l
7,39 mg/l
Pb
261,418
Co
Chồng vạch
23,64 mg/l
117,84 mg/l
Pb
261,418
Fe
Chồng vạch
5,06 mg/l
25,32 mg/l
Pb
283,306
Fe
Chồng vạch
0,18 mg/l
1,32 mg/l
TI
190,801
Co
Chồng vạch một phần
0,76 mg/l
3,83 mg/l
TI
190,801
Mo
Chồng vạch một phần
0,81 mg/l
4,05 mg/l
TI
190,801
V
Chồng vạch một phần
0,40 mg/l
1,94 mg/l
TI
276,787
Mn
Chồng vạch
1,73 mg/l
8,37 mg/l
TI
276,787
Ni
Chồng vạch một phần
0,02 mg/l
0,06 mg/l
TI
351,294
Ti
Chồng vạch
0,19 mg/l
1,06 mg/l
TI
351,294
V
Chồng vạch
0,29 mg/l
1,50 mg/l
Zn
202,548
Cr
Chồng vạch một phần
1,00 mg/l
5,11 mg/l
Zn
202,548
Cu
Chồng vạch
1,08 mg/l
5,43 mg/l
Zn
202,548
Ni
Chồng vạch một phần
0,18 mg/l
0,90 mg/l
Zn
213,856
Cu
Chồng vạch một phần
0,43 mg/l
2,18 mg/l
Zn
213,856
Ni
Chồng vạch
0,36 mg/l
1,83 mg/l
Bảng B.3 - Nhiễu tiềm ẩn và nồng độ chất phân tích tương đương (mg/l) thu được từ nhiễu tại
một vài mức mg/l đối với plasma quanh trục (Varian Vista-PRO™)
nm
LOQa
mg/l
Nhôm
257,509
2,0
n.a
-
-
-
-
-
-
-
-
Antimon
206,834
0,5
-
-
2,5
-
-
-
-
-
-
Asen
188,980
0,5
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Bari
455,403
0,02
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Bery
313,042
0,02
-
-
-
-
-
-
-
-
0,02
Cadmi
214,439
0,005
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Canxi
315,887
5
-
n.a
-
-
-
-
-
-
-
Crôm
267,716
0,02
-
-
n.a
-
0,06
-
0,02
-
-
Coban
238,892
0,02
-
-
-
-
-
-
-
-
0,05
Đồng
324,754
0,02
-
-
-
n.a
-
-
-
-
-
Sắt
238,204
1
-
-
-
-
n.a
-
-
-
-
Chì
220,353
0,02
-
-
-
-
-
-
0,03
-
-
Magie
279,553
1
-
-
-
-
-
n.a
-
-
-
Mangan
257,610
0,2
-
-
-
-
-
-
n.a
-
-
Molypden
202,032
0,02
-
-
-
-
-
-
-
-
0,06
Niken
231,604
0,02
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Phospho
213,618
0,5
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Kali
766,491
1
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Natri
589,592
0,5
-
-
-
-
-
-
-
-
1,4
Selen
196,026
0,5
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Stronti
407,771
0,02
-
0,03
-
-
-
-
-
-
-
Thali
190,794
0,1
-
-
-
-
-
-
0,3
-
0,3
Titan
336,122
0,02
-
-
-
0,04
-
-
-
n,a
-
Vanadi
292,401
0,02
-
-
-
-
-
-
-
0,21
n.a
Chất phân
tích
AI
Ca
1 000 1 000
mg/l
mg/l
Cr
200
mg/l
Cu
200
mg/l
Fe
1 000
mg/l
Mg
1 000
mg/l
Mn
200
mg/l
Ti
200
mg/l
V
200
mg/l
Kẽm
213,857
0,05
0,08
-
-
0,12
-
-
-
-
-
n,a không áp dụng
a
LOQ = Giới hạn định lượng.
Các đường chỉ thị mà không quan sát được nhiễu, thậm chí khi các chất nhiễu đã được nêu tại các
mức sau:
AI tại 1 000 mg/l, Cu tại 200 mg/l, Mn tại 200 mg/l;
Ca tại 1000 mg/l, Fe tại 1000 mg/l; Ti tại 200 mg/l
Cr tại 200 mg/l, Mg tại 1 000 mg/l, V tại 200 mg/l
THƯ MỤC TÀI LIỆU THAM KHẢO
[1] TCVN 7151:2002 (ISO 648:1977), Dụng cụ thí nghiệm bằng thủy tinh - Pipet một mức
[2] TCVN 7153:2002 (ISO 1042:1998), Dụng cụ thí nghiệm bằng thủy tinh - Bình định mức
[3] TCVN 6665 (ISO 11885), Chất lượng nước. Xác định 33 nguyên tố bằng phổ phát xạ nguyên tử
plasma
[4] ISO Guide 30, Terms and definination used in connection with reference materials
[5] ISO Guide 33, Uses of certified reference materials
[6] BOUMANS, P.W.J.M., Inductivity Coupled Plasma Emission Spectroscopy, Part I and II; J. Wiley &
Sons, New York, 1987
[7] THOMPSON, M. and WALSH, J.N., Handbook of Inductivity Coupble Plasma Spectrometry;
Blackie & Son, Glasgow, 1983
[8] LAWRENCE, K.E., TICE, G.V. and PASEL, V.A., Anal. Chem., 56 (1984), pp. 289-292
[9] LAFRENIERE, K.E., RICE, G.V and FASSEL, V.A., Spectrochim. Acta, 40B (1985), pp. 1495-1504
[10] POUSSEL, E., MERMET, J.M. and SAMUEL, O., Spectrochim. Acta, 48B (1993), pp. 743-755
[11] CARRE, M., POUSSEL, E. and MERMET, J.M., J. Anal. Atom. Spectrom., 7 (1992), pp. 791-797
[12] VAN VEEN, E.H. and DE LOOS-VOLLEBREGT, M.T.C., Spectrochim. Acta, 45B (1990), pp. 313328
[13] BOUMANS, P.W.J.M., Line Coincidence Tables for Inductively Couples Palsma Atomic Emission
Spectrometry, 2nd revised ed. Pergamon, Oxford, 1984
[14] THOMAS, P., Metal Analysis, In: Chemical Analysis of Contaminated Land, Thompson, K.C. and
Nathanail, C.P. (eds), Blaclwell Publlishing CRC Press, 2003
MỤC LỤC
Lời nói đầu
1. Phạm vi áp dụng
2. Tài liệu viện dẫn
3. Thuật ngữ và định nghĩa
4. Nguyên tắc
5. Chất gây nhiễu
6. Thuốc thử
7. Thiết bị
8. Cách tiến hành
9. Tính kết quả
10. Độ đúng
11. Biểu thị kết quả
12. Báo cáo thử nghiệm
Phụ lục A (tham khảo) Kết quả độ lặp lại và độ đúng
Phụ lục B (tham khảo) Chất gây nhiễu
Thư mục tài liệu tham khảo
