(TIỂU LUẬN) chương 8 định hướng dung sai

Đại học Bách Khoa Tp. Hồ Chí
Minh Dung sai và kỹ thuật đo

GVHD: TRƯƠNG QUỐC THANH
NHĨM: 7
Nguyễn Trung Hiếu 1812190
Ngơ Minh Phương 1813620
Võ Quốc Hoàng Sang


Chương 8
Định hướng dung sai


8.1 GIỚI THIỆU
Dung sai định hướng (song song, vng góc, góc) là kiểm sốt, xác định một đối tượng (bề mặt hoặc
đặc điểm kích thước) liên quan đến một hoặc nhiều dữ liệu. Điều khiển song song xác định độ lệch
của một phần tính năng so với song song và nó được sử dụng cho hình học nằm ở góc 180 ° so với
hình học khác. Kiểm sốt độ vng góc xác định độ lệch của một phần tính năng so với độ vng
góc, và nó được sử dụng cho các hình học ở góc 90 ° so với nhau. Một điều khiển góc cạnh xác định
độ lệch của một bộ phận đối với một độ nghiêng xác định và nó được sử dụng cho các hình học
khơng phải ở 180 ° hoặc cách nhau 90 °.


8.2 SONG SONG
Điều khiển song song xác định độ lệch của một phần tính năng so với song song và nó được sử dụng cho các hình học nằm cách
nhau 180 . Loại lỗi này có thể được áp dụng cho một đường trung tuyến dẫn xuất hoặc một bề mặt và biểu tượng của nó là hai
dấu gạch ngang song song nghiêng 60 .

8.2.1 Tính song song của một đường trung vị liên quan đến một
Datum Hệ thống

8.2.1.1 Tính song song của đường trung vị liên quan đến trục dữ liệu
Vì giá trị dung sai trong điều khiển song song trong Hình 8.1 khơng đứng trước giá trị Ký hiệu Ø, đường trung tuyến
được trích xuất từ lỗ trên phải rơi vào giữa hai mặt phẳng cách nhau 0,1 mm, song song với mốc A, và với hướng
được chỉ định bởi datum B (Hình 8.2). Trong thực tế trước đây, để thay thế, hướng của các vùng dung sai là được
xác định với một dữ liệu thứ cấp (Hình 8.3). Tuy nhiên, một sự song song chặt chẽ hơn kiểm sốt thu được, như
được chỉ ra trong Hình 8.4, khi giá trị trung bình chiết xuất nằm giữa hai cặp mặt phẳng song song, song song với
trục dữ liệu A và có vị trí 0,1 và cách nhau 0,2. Hướng của các mặt phẳng giới hạn vùng dung sai được chỉ định, đối
với mặt phẳng dữ liệu B bởi các chỉ báo mặt phẳng định hướng. Vùng dung sai trong Hình 8.5 được giới hạn bởi
một hình trụ có đường kính 0,3 mm, có trục song song với mốc A, vì giá trị dung sai được đặt trước ký hiệu Ø.


Hình 8.1 Đặc điểm kỹ thuật song song của đường trung tuyến liên quan đến trục dữ liệu; các mặt phẳng
giới hạn vùng dung sai song song với mặt phẳng mốc B, như được chỉ định bởi chỉ báo mặt phẳng định
hướng

Hình 8.2 Điều khiển đường trung vị đã trích xuất được thể hiện trong hình trước; trong trường hợp này, trích
xuất đường trung tuyến của lỗ trên phải nằm trong hai mặt phẳng cách nhau 0,1 mm, song song với mốc A và
với hướng được chỉ định bởi dữ liệu B, như được chỉ định bởi chỉ báo mặt phẳng định hướng


Hình 8.3 Một thực hành trước đây, thay thế cho chỉ thị của mặt phẳng định hướng được thể hiện trong Hình 8.1

Hình 8.4 Chỉ báo song song với hai chỉ báo mặt phẳng định hướng

Hình 8.5 Việc sử dụng ký hiệu Ø xác định vùng dung sai hình trụ song song với mốc
bên trong mà dịng trung bình được trích xuất sẽ rơ


8.2.1.2 Tính song song của đường trung vị liên quan đến
mặt phẳng dữ liệu

Đặc điểm kỹ thuật về độ song song của đường trung tuyến liên quan đến mặt phẳng dữ liệu, như
được hiển thị trong Hình 8.6, trong đó đường trung tuyến chiết xuất sẽ nằm giữa hai mặt phẳng
song song Cách nhau 0,01 mm, song song với mặt phẳng mốc B.

Hình 8.6 Nếu dung sai giá trị khơng đứng trước Ký hiệu Ø, trích xuất đường trung tuyến
sẽ giảm giữa hai mặt phẳng song song Cách nhau 0,01 mm, là song song với mặt phẳng
mốc B


8.2.2 Tính song song của một tập hợp các đường trên bề mặt có
liên quan đến một máy bay dữ liệu
Mỗi dịng được trích xuất trong Hình 8.7, song song với mặt phẳng dữ liệu B, như được chỉ định bởi liên chỉ báo mặt
phẳng tiết diện, nên nằm giữa hai đường thẳng song song cách nhau 0,2, là song song với mặt phẳng mốc A. Vùng
dung sai được giới hạn bởi hai đường thẳng song song 0,2 mm ngoài và có hướng song song với mặt phẳng dữ liệu
A, nghĩa là, các đường thẳng nằm trên một mặt phẳng song song đến mặt phẳng dữ liệu B.

Hình 8.7 Đặc điểm kỹ thuật song song của một tập hợp các đường trên bề mặt


8.2.3 Tính song song của một bề mặt phẳng liên quan đến một
Datum Hệ thống
Hình 8.8 cho thấy đặc điểm kỹ thuật về độ song song của một bề mặt phẳng liên quan đến một mốc chiếc máy bay; bề mặt
chiết phía trên phải nằm giữa hai mặt phẳng song song 0,4 mm ngoài nhau, song song với mặt phẳng dữ liệu A. Cần lưu ý
rằng sự song song kiểm soát cũng hạn chế độ phẳng của các bề mặt. Trong trường hợp này, nguyên tắc độc lập cũng được gọi
theo mặc định để định hướng do đó dung sai và các quy tắc sau là hợp lệ (Hình 8.9): (1) dung sai độ song song có thể có giá
trị cao hơn giá trị dung sai kích thước; (2) mỗi kích thước cục bộ được đo giữa hai điểm phải nằm trong giới hạn kích thước;
(3) độ lệch hình thức phải nằm trong các giá trị dung sai song song.


8.3 Độ vng góc

Tính năng dung sai được kiểm sốt bởi một đặc điểm kỹ thuật vng góc có thể là một tính năng
tích phân hoặc một tính năng dẫn xuất. Các góc kích thước chính xác về mặt lý thuyết (TED) bị
khóa giữa tính năng được dung nạp danh nghĩa và các mức dữ liệu phải được

Hình 8.8 Đặc điểm kỹ thuật song song của bề mặt phẳng liên quan đến mặt phẳng dữ liệu


Hình 8.9 Giải thích thơng số kỹ thuật song song của hình trước. Trình quản lý định hướng- Ance được áp dụng cho một
đối tượng có kích thước, và ngun tắc độc lập do đó được gọi theo mặc định. Do đó, dung sai song song có thể có giá
trị cao hơn dung sai kích thước và dạng sai lệch (độ phẳng trong trường hợp này) phải nằm trong các giá trị dung sai
được chỉ định [1] được xác định bằng các TED ngầm định (90 °). Kiểm soát độ vng góc (ký hiệu- được viết bởi hai
dấu gạch ngang trực giao) thường được sử dụng để đủ điều kiện cho một trường trung học hoặc đại học đặc điểm dữ
liệu.


8.3.1 Độ vng góc của một đường trung vị liên quan đến một
số liệu Hệ thống
Trong trường hợp thể hiện trong Hình 8.10, đường trung tuyến chiết xuất của hình trụ phải rơi giữa
hai cặp mặt phẳng song song, vuông góc với mặt phẳng mốc A, và vị trí lần lượt cách nhau 0,1 mm và
0,2 mm. Định hướng của các mặt phẳng giới hạn các vùng dung sai được chỉ định, đối với mặt phẳng
mốc B, theo hướng các chỉ số mặt phẳng. Tóm lại, định hướng của các mặt phẳng được xác định bởi
hai hướng ký hiệu mặt phẳng tion đối với mốc B. Một vài mặt phẳng (cách nhau 0,1 mm) vng góc
với điểm B và điểm kia (cách nhau 0,2 mm) song song với điểm B (Hình 8.11).

Hình 8.10 Độ vng góc đặc điểm kỹ thuật của một đường trung tuyến liên quan đến một hệ thống dữ
liệu; đường trung bình được trích xuất của hình trụ sẽ rơi giữa hai cặp song song mặt phẳng, vng
góc với mặt phẳng dữ liệu A, như được chỉ ra bởi mặt phẳng định hướng chỉ số


Hình 8.11 Vùng dung sai được giới hạn bởi hai

cặp mặt phẳng song song cách nhau 0,1 mm và
0,2 mm, và vng góc với nhau. Cả hai mặt phẳng
đều vng góc với mặt phẳng A. Một cặp của mặt
phẳng vng góc với điểm B và mặt kia song
song với điểm B

Hình 8.12 Đặc tả độ vng góc của một đường trung
tuyến liên quan đến một đường thẳng dữ liệu; NS
đường trung tuyến chiết xuất của lỗ có đường kính 25
am
được kiểm sốt bởi dung sai vng góc với đối
với trục của lỗ nằm ngang, được coi là một tiêu chuẩn
(cần lưu ý rằng, trong hình chiếu bên, hai trục khơng
nằm trên cùng một mặt phẳng thẳng đứng)


8.3.2 Độ vng góc của một đường trung vị liên quan đến một
Datum Đường thẳng
Như thể hiện trong Hình 8.12, đường trung bình chiết xuất của lỗ có đường kính 25 mm là được điều khiển bởi
dung sai vng góc đối với trục của phương ngang lỗ, được lấy làm tiêu chuẩn. Vì giá trị dung sai khơng đứng
trước Ø biểu tượng, đường trung tuyến chiết phải nằm giữa hai mặt phẳng song song 0,2 mm ngồi, vng góc
với trục số liệu A (Hình 8.13).


8.3.3 Độ vng góc của một đường trung vị liên quan đến mặt phẳng
số liệu
Vùng dung sai được xác định bởi thơng số kỹ thuật trong Hình 8.14 được giới hạn
bởi 0,1 mm hình trụ có đường kính, có trục vng góc với mốc A, vì dung sai trước
giá trị của ký hiệu ∅.
Hình 8.13 Vùng chịu đựng khơng đứng trước Ø,

vùng chịu đựng có giới hạn bởi hai mặt phẳng song
song Cách nhau 0,2 mm và vng góc với trục dữ
liệu

Hình 8.14 Độ vng góc dung sai được áp dụng
cho một tính năng hình trụ của kích thước sử dụng
ký hiệu Ø


8.3.4 Độ vng góc của một bề mặt đối
với mặt phẳng thơng số
Bề mặt được thể hiện trong Hình 8.15 nên nằm
giữa hai mặt phẳng song song cách nhau 0,1 mm,
vng góc với mặt phẳng A. trong trường hợp
này, độ phẳng được kiểm soát ngầm. Sự quay
của vùng dung sai xung quanh pháp tuyến của
mặt phẳng dữ liệu không được xác định và chỉ có
hướng được chỉ định. Quy trình lắp ráp và điều
khiển của phôi cũng được minh họa trong Hình
8.16: chi tiết quay tự do quanh trục nằm ngang và
sự khơng ổn định này có thể ảnh hưởng đến việc
xác minh độ lệch vng góc. Để tránh vấn đề
này, dung sai vng góc có thể được quy định
với hai mức dữ liệu.


Kết quả là, trong trường hợp của Hình
8.17, dung sai vng góc được áp dụng
cho hai mặt phẳng dữ liệu, vì việc lắp ráp Hình 8.17 phơi ngụ ý sự liên kết
với bề mặt B; việc

điều khiển diễn ra với việc đặt phơi trên
mặt phẳng chính và sau đó đặt trên
mặt phẳng thứ cấp (8.18).

Hình 8.18


.3.5 Áp dụng độ vng gốc vào đặc tính kích thước

Khi dung sai vng góc được áp dụng khối hình trụ có
kích thước và u cầu vật liệu amaximum (MMR) được
thêm vào, như thể hiện trong Hình 8.19, việc kiểm sốt độ
lệch hướng khơng chỉ liên quan đến đường trung tuyến nữa
mà là tồn bộ đối tượng được trích xuất ( Ranh giới MMVC),
và nó khơng được vi phạm điều kiện ảo MMVC là 60,1 mm,
được tính bằng cách cộng kích thước vật liệu tối đa (60 mm)
với dung sai hình học vng góc (0,1 mm). MMVC đại diện
cho điều kiện lắp ráp bất lợi nhất mà nhà thiết kế có thể đảm
bảo đầy đủ chức năng và khả năng thay thế tất cả các bộ
phận được sản xuất với chi phí tối thiểu.


8.4 GĨC
8.4.1 Góc của đường trung tuyến đối với một đường thẳng thơng số

Trong hình 8.20, đường trung tuyến phải
nằm trong một hình trụ có đường kính 0,1,
nghiêng một góc 60 ° về mặt lý thuyết so với
đường thẳng dữ liệu chung A-B. Dịng được
xem xét và dịng thơng số không ở trên

cùng một mặt phẳng.


8.4.2 Góc của đường trung tuyến đối với
hệ thống dữ liệu

Hình 8.21
Đây là trường hợp được thể hiện trong Hình 8.21,
trong đó đường trung nằm trong vùng dung sai hình
trụ có đường kính 0,1 mm song song với mặt phẳng B
và nghiêng một góc là 60 ° so với mặt phẳng mốc A.
Nếu Giá trị dung sai được ký hiệu là Ø, vùng dung sai
là một hình trụ có đường kính được chỉ định và có trục
nghiêng so với đặc tính và song song với dữ liệu thứ
cấp B (Hình 8.22).
Hình 8.22


8.4.3 Góc của một mặt phẳng đối với một
mặt phẳng dữ liệu
Vùng dung sai trong Hình 8.23 bao gồm hai mặt phẳng cách nhau 0,1
am
và nghiêng 30 ° so với mặt phẳng A. Toàn bộ bề mặt nằm trong phạm vi
dung sai và độ phẳng 0,1 mm. Kiểm soát bằng cách lắp bộ phận lên thiết
bị đo, sử dụng tấm hình sin đặt ở góc cơ bản để làm cho bề mặt dung sai
song song với tấm bề mặt. Một chỉ báo quay số được sử dụng để xác minh Hình 8.23 rằng các
phần tử bề mặt nằm trong vùng dung sai góc (Hình 8.24).

Vùng dung sai này có thể dịch theo bất kỳ
hướng nào, nhưng vẫn phải lệch so với mặt

phẳng dữ liệu A một góc 30 °.

Hình 8.24


Hình 8.25 cho thấy phơi tương tự như Hình
8.23, sự khác biệt duy là phương thức điều khiển,
để tránh các vấn đề gây mất ổn định, trước tiên
phôi được định hướng so với mặt phẳng A và sau
đó được căn chỉnh theo mặt phẳng dữ liệu B.

Hình 8.25


8.4.4 Áp dụng Angularity (MMR)vào đặc tính
kích thước

Hình 8.26 cho thấy ảnh hưởng của (MMR) đổi với
đặc điểm kỹ thuật về góc cạnh. Trong trường hợp
này, đường trung tuyến khơng phải là thứ được điều
chỉnh, mà là MMVC của lỗ (MMVS = 14,5 mm). Các
ranh giới lỗ không được vi phạm MMVC,

có trục nghiêng 45 ° so với mặt A. B đóng vai trị
minh góc [1].

Hình 8.26

ổn định q trình xác

8.5 Định hướng dung sai trong
tiêu chuẩn ASME
Trong tiêu chuẩn ASME, trục AME
(hình trụ trịn ngoại tiếp nhỏ nhất) được
sử dụng để xác thực điều khiển.

Trong tiêu chuẩn ASME, người ta nhấn mạnh
rằng dung sai định hướng khơng kiểm sốt vị trí của
chỉ định dung sai định hướng,
cần xem xét việc kiểm sốt định hướng như đã
được thiết lập thơng qua các dung sai khác, chẳng
hạn như vị trí, và hồ sơ điều khiển(Hình 8.28).

Hình 28.7

các đối tượng, và khi

Hình 28.8


ISO 1101 gần đây đã giới thiệu ký hiệu mặt
phẳng tiếp tuyến mới, ký hiệu này trước đây đã có
trong ASME Y14.5 M năm 1994. Khi ký hiệu mặt
phẳng tiếp tuyến được chỉ định với dung sai hình
học, mặt phẳng tiếp xúc với các điểm của đối tượng
phải nằm trong vùng dung sai được thiết lập bởi
dung sai hình học. Trong trường hợp này, đặc trưng
dung sai không được kiểm sốt bởi dung sai hình
học và một số điểm của đặc trưng dung sai có thể

nằm ngồi vùng dung sai (Hình 8.29).
Hình 28.9