Bạn đang xem bản rút gọn của tài liệu. Xem và tải ngay bản đầy đủ của tài liệu tại đây (709.03 KB, 12 trang )
20/12/13
1
20/12/13 TS. Tran Tien Phuc 1
KÍNH HIỂN VI THẾ HỆ MỚI TRONG
LĨNH VỰC ĐIỆN TỬ NANÔ
Trần Tiến Phức
Khoa Điện - Điện tử
20/12/13 TS. Tran Tien Phuc 2
CÁC LOẠI KÍNH HIỂN VI DÙNG TRONG
LĨNH VỰC NANO
1. Kính hiển vi điện tử truyền qua (Transmission Electron
Microscopy - TEM) cho thông tin về hình thái, cấu trúc và các giao
diện, những sai hỏng trong mạng tinh thể.
2. Kính hiển vi điện tử quét (Scanning Electron Microscopy - SEM)
phát hiện hình thái của mẫu, kết hợp với tán xạ tia X cho thông tin
về thành phần của vật liệu.
3. Kính hiển vi đầu dò quét (Scanning Probe Microscopy - SPM) để
phân tích bề mặt có độ phân giải cao.
Kính hiển vi đường hầm quét (Scanning Tunneling Microscopy - STM)
Kính hiển vi lực nguyên tử (Atomic Force Microscopy - AFM),
Kính hiển vi lực tónh điện (Electrostatic Force Microscopy - EFM),
Kính hiển vi lực từ (Magnetic Force Microscopy - MFM),
Kính hiển vi tụ quét (Scanning Capacitance Microscopy - SCM),