Trang iv
-
ng
cong Gauss.
ABSTRACT
The hardness is a significant issue of mechanical materials, and usually
determined by conventional destructive methods using pointers. This paper
studied on the relation between the hardness of quenched and temperred steel
C50 and the broadness of the diffraction line, represented by the width of the
Gaussian curve method. The experimental result has determined a
proportional relation to the line half-width, thus showing a posibility of
evaluating the hardness of crystalline materials using X-ray diffraction.
Keywords: X-ray diffraction, Hardness, Quenched Steel, Half-width,
Gaussian curve.
Trang v
TRANG
i
ii
iii
iv
v
ix
Danh sách các hình
xi
Danh sách các
xiii
1
t v
1
II. Các p cng hin nay
1
2
5
8
10
12
12
12
2.
12
12
13
13
-ray.
13
13
15
Trang vi
1.1.
16
)
17
1.1.2.3. ảệ số phân cực trên mẫu phẳng P(2θ
19
19
19
-polarization(LP)
20
1.2.3. C
20
21
24
24
26
27
30
30
1.4.2. Tôi
31
31
31
31
1.4.2.4. Chn nhi tôi
31
1.4.2.5. Thi gian Tôi
32
1.4.3. Ram
32
1.4.3.1. Phân loi ram
33
1.4.3.1.1.
33
1.4.3.1.2.
:
33
1.4.3.1.3. Ram cao
33
33
34
34
Trang vii
34
34
34
35
35
2.2.2. Ram
36
36
36
36
37
38
40
40
40
Rockwell (HRC)
41
43
43
43
44
3.2.2.2.
45
3.2.2.3.
0
C
45
3.2.2.4.
0
C
46
3.2.2.4.
0
C
47
3.2.2.6.
0
C
48
3.2.2.7.
0
C
49
3.2.2.8.
0
C
50
3.2.2.9.
0
C
51
3.2.2.10.
0
C
52
3.2.2.11.
0
C
54
Trang viii
56
4.
56
ram
57
58
58
I
60
62
O
63
65
Phụ lục 1:
65
Phụ lục 2:
68
Phụ lục 3:
0
C.
71
Phụ lục 4:
0
C
74
Phụ lục 5:
0
C
77
Phụ lục 6: ram 400
0
C
80
Phụ lục 7:
0
C
83
Phụ lục 8:
0
C
86
Phụ lục 9:
0
C
89
Phụ lục 10: 0
0
C
92
Phụ lục 11:
0
C
95
Trang ix
:
SWL
:
n
2
:
d : ( hkl )
n :
h :
V :
( P ) :
(
)
( Q ) :
:
o
:
:
o
:
:
:
:
: ( P )
a :
( )
b :
(
-K, Cr-K, Cu-K, Co-K . . .)
: (
)
AB :
BC :
:
= 0
o
R :
Trang x
r :
dr :
:
d
:
L :
Lc :
.
dV = Ldrd
:
B
I
,
W, là sai lch chun, m rng cng nhiu x
Trang xi
DANH SÁCH CÁC HÌNH
HÌNH TRANG
Hình A.1:
(Máy ki cng Brinel)
1
Hình A.2:
(Máy ki cng Brinel)
2
Hình A.3:
()
2
Hình A.4:
(c vt lõm)
3
Hình A.5:
cng b công)
4
Hình A.6:
(Bi lõm)
4
Hình A.7:
( Bi cng theo chiu sâu vt lõm)
5
Hình A.8:
(Máy ki cng Vicker: Brinel)
5
Hình A.9:
(Hình dng vt lõm)
6
Hình A.10:
(c vt lõm và giá tr cng)
6
Hình A.11:
( không gian c)
7
Hình A.12:
( cng Vickers ca mt s vt liu)
7
Hình A.13:
( thit b cng Rockwell)
8
Hình A.14.a:
(c vt l cng Rockwell)
9
Hình A.14.b:
c vt l cng Rockwell)
9
Hình B1.1:
(nh lut Bragg)
13
Hình B1.2:
(mi quan h gi nhiu x I)
14
Hình B1.3:
(mi quan h giu x)
15
Hình B1.4:
(Mi quan h ginh nhiu x)
16
Hình B1.5:
(Nhiu x trên mt phân t)
17
Hình B1.6:
(H s lorent)
18
Hình B.1.7:
ng nhiu x ca vt liu Al 2024-T3)
19
Hình B.1.8:
(S phát tán t mm M)
20
Hình B1.9:
(Chung phông cng nhiu)
21
Hình B1.10:
(ng cc tinh th n nhiu)
25
Hình B1.11:
ng nhiu x ng nhiu x)
25
Hình B1.12:
rng nhiu x)
26
Trang xii
Hình B1.13:
rng nhiu x)
27
Hình B1.14:
ng nhiu x c ni suy bng cong
Gauss)
28
Hình B1.15:
(
)
30
Hình B2.1:
(Kiu mng tinh th thép C50)
34
Hình B2.2:
(Thc hin nhit luyn ti DH SPKT TP)
35
Hình B2.3:
(u c nh )
36
Hình B2.4:
u x ti trung tâm ht nhân)
38
Hình B3.3:
39
Hình B3.4:
41
Hình B3. 5:
model HRC-150
41
Hình B3.6:
(Hàm Gaussian amp)
41
Hình B3.7:
ng nhiu x mu không nhit luyn)
42
Hình B3.8:
ng nhiu x mu Tôi )
43
Hình B3.9:
ng nhiu x mu nhit luyn (tôi + ram 250
0
C)
44
Hình B3.10:
ng nhiu x mu nhit luyn (tôi +ram 300
0
C)
45
Hình B3.11:
ng nhiu x mu nhit luyn (tôi +ram 350
0
C))
46
Hình B3.12:
ng nhiu x mu nhit luyn tôi +ram 400
0
C)
47
Hình B3.13:
ng nhiu x mu nhit luyn (tôi +ram 450
0
C)
48
Hình B3.14:
(ng nhiu x mu nhit luyn tôi +ram 500
0
C)
50
Hình B3.15:
ng nhiu x mu nhit luyn (tôi +ram 550
0
C)
51
Hình B3.16:
ng nhiu x mu nhit luyn tôi +ram 600
0
C)
52
Hình B3.17:
ng nhiu x mu nhit luyn (tôi +ram 650
0
C)
53
Hình B4.1:
(Bi mi quan h cng b
(HRC) và nhi ram)
56
Hình B4.2:
(Bi gia b rng trung bình B và nhi ram)
57
Hình B4.3:
th mi quan h ging Rockwell và B rng
trung bình B các mu thc nghim)
59
Trang xiii
Hình B4.4:
th biu din mi quan h ging Rockwell và b
rng trung bình (B) và b rng nhiu x B
I
.)
60
Trang xiv
NG TRANG
Bng B1.1:
(Hng s hp thu ph thuc vào kim loc tính tia X)
17
Bng B1.2:
(Dng ta mt s ch s Miller cho h mng
lt)
24
Bng B1.3:
(nh mc thi gian nung nóng mu thép trong lò thí nghim)
32
Bng B2.1:
(Thành phn hóa hc thép C50)
34
Bng B2.2:
(Nhi tôi thép C50)
35
()
37
()
38
(thép C50)
40
B3.4:
(u kin thí nghim bng nhiu x X quang)
40
B3.5 :
()
42
Bng B3.6:
(S liu các m ng Rockwell)
42
Bng B3.7:
(Giá tr tham s ca hàm ni suy mu không nhit luyn)
44
Bng B3.8:
(Giá tr tham s ca hàm ni suy mu Tôi)
46
Bng B3.9:
(Tham s và giá tr tham s ca hàm ni suy mu tôi+ram 250
0
)
47
Bng B3.10:
(Giá tr tham s ca hàm ni suy mu tôi+ram 300
0
)
48
Bng B3.11:
(Giá tr tham s ca hàm ni suy mu tôi+ram 350
0
)
49
Bng B3.12:
(Giá tr tham s ca hàm ni suy mu tôi+ram 400
0
)
50
Bng B3.13:
Giá tr tham s ca hàm ni suy mu tôi+ram 450
0
)
51
Bng B3.14:
Giá tr tham s ca hàm ni suy mu tôi+ram 500
0
)
52
Bng B3.15:
Giá tr tham s ca hàm ni suy mu tôi+ram 550
0
)
53
Bng B3.16:
Giá tr tham s ca hàm ni suy mu tôi+ram 600
0
)
54
Bng B3.17:
Giá tr tham s ca hàm ni suy mu tôi+ram 650
0
)
55
Bng B4.1:
(S li cng Rockwell ca các m
56
Bng B4.2:
(S li rng trung bình B ca nhiu x các m
57
Bng B4.3:
(S ling Rockwell và b rng trung bình B )
58
Bng B4.4:
(Kt qu tính toán b rng trung bình, b
60
Trang xv
cng Rockwell ca các mu thép)
Trang 1
:
Độ cứng là một thuộc tính cơ bn của vật liệu, thuật ngữ độ cứng phn ánh
tính chịu un, độ bền, mài mòn, trầy xước của vật liệu. Cùng với sự phát triển của
khoa học vật liệu đã có rất nhiều phương pháp đo độ cứng ra đi. Một s phương
pháp đo độ cứng thưng được biết đến, đặc biệt ứng dụng cho lĩnh vực vật liệu kim
loi.
Độ cứng là kh năng chng li biến dng dẻo cục bộ và có liên quan chặt chẽ
đến độ bền kéo. Độ cứng được xác định bằng cách đo mức độ chng li lực ấn của
mũi đâm có dng chuẩn lên bề mặt vật liệu. Vật liệu mũi đâm có thể là thép đã nhiệt
luyện hoặc kim cương, có thể có hình cầu hoặc hình tháp. Độ cứng được xác định
theo kích thước của vết lõm mũi đâm để li trên bề mặt vật kiểm. Đó cũng là mức
chng li lực ấn của mũi đâm có dng chuẩn lên bề mặt vật liệu.
II. Các
Hiện nay độ cứng được đo theo ba phương pháp thông dụngμ
- Theo thang Brinell – Dùng mũi đâm bằng bi thép hoặc wolfram.
- Theo thang Vickers – dùng mũi đâm kim cương dng hình tháp vuông.
Hình A.1: εáy kiểm tra độ cứng Brinel
Trang 2
- Theo thang Rockwell – dùng mũi đâm hình côn bằng kim cương hoặc bi thép.Kích
thước vết lõm được dùng để xác định giá trị độ cứng - vết lõm càng nh thì vật liệu
càng cứng.
1μ (Brinell Hardness Test có ký hiệu là HB) do nhà nghiên cứu
ngưi Sweden có tên Dr. Johan August Brinell đề xuất.
Độ cứng Brinell cho kết qu không chính xác khi kho xát vùng nh hưng
nhiệt. Vì vậy được dùng chủ yếu cho kim loi cơ bn. Đơn vị đo Độ cứng Brinellμ
HB [kG/mm
2
].
Hình A.2: εáy kiểm tra độ cứng Brinel
Hình A.3: Kích thước bi tròn làm mũi thử
Trang 3
Để đo độ cứng Brinell máy thuỷ lực được dùng để ép viên bi thép trên bề
mặt mẫuthử tác dụng lực xác định trong 1η giây. Đưng kính vết lõm trên bề mặt
kim loi được đo với kính hiển vi Brinell chia vch theo milimet. Áp dụng công
thức sau để xác định độ cứng Brinellμ
;
εặt khácμ F=
Vậy μ HB=
Trong đó:
P: là lực tác dụng vào bi thép
ạ: Diện tích vết lõm
D: Đường kính bi thép
d: Đường kính vết lõm
Phương pháp đo độ cứng Brinell thưng dùng để đo vật liệu có độ cứng thấp, thang
đo dưới 4η0HB. Quá giới hn này thì không thực hiện được chính xác vì viên bi đo
bị biến dng.
Hình A.4: Đo hình dng, kích thước vết lõm
mũi thử
Trang 4
- Trong một s trưng hợp đơn gin có thể dùng phương pháp thủ công để
kiểm tra như hình vẽ sauμ
- Độ cứng Brinell có thể xác định theo biểu đồ vết lõm sauμ
Hình A.5: Đo độ cứng bằng phương pháp thủ công
mũi thử
Hình A.6:Biểu đồ lõm
Trang 5
2 (HV):
Để đo độ cứng Vickers vết lõm được to ra bằng mũi kim cương hình chóp,
sử dụng lực tác dụng phù hợp với độ cứng của vật liệu. Thi gian tác dụng lực
thưng được chuẩn hoá là 10 giây.
Hình A.7:Biểu đồ xác định độ cứng theo chiều sâu vết lõm
Hình A.8: Máy kiểm tra độ cứng Vickers
Trang 6
- Vết lõm có dng hình vuông sẫm trên nền sáng
2.2. Tính toán
Các đo đc được thực hiện theo đưng chéo vết lõm, giá trị độ cứng tương
ứng được quy chiếu từ bng mẫuhoặc tính toán bằng công thứcμ
2
8544,1
d
P
HV
Trong đó:
ảv : Độ cứng Vickers
P: Lực tác dụng
d: Đường kính mũi thử (d = 0,5( d
1
+ d
2
))
Hình A.9:Hình dng vết lõm
Hình A.10: Kích thước vết lõm và giá trị độ cứng
Trang 7
Độ cứng HV có thể rất chính xác trong khong rộng vật liệu, do mũi đâm
kim cương không bị biến dng. Các vết lõm khi đo độ cứng HV nh hơn nhiều so
với HB do đó cần chuẩn bị bề mặt cẩn thận trước khi đo độ cứng.
Hình A.11:Góc độ không gian của mũi thử
Hình A.12:Độ cứng Vickers của một s vật liệu
Trang 8
3
εột s loi máy kiểm tra độ cứng Rockwellμ
εáy đo độ cứng Rockwell sử dụng mũi đâm bằng thép để đo độ cứng các vật
liệu mềm và mũi đâm hình nón bằng kim cương cho các vật liệu cứng. Sư đo bắt
đầu bằng tác dụng ti trọng sơ bộ để định vị mũi đâm trên bề mặt cần đo độ cứng.
Sau đó tác dụng ti trọng chính.
- Ti trọng sơ bộ P
o
= 10 kG.
- Ti trọng chính Pμ + Bi thép μ P = 100 kG
+ εũi kim cươngμ P = 1η0 kG.
Sau khi kim đồng hồ ổn định, ti trọng chính được loi b nhưng vẫn giữ ti sơ bộ.
S độ cứng HR dựa trên hiệu s giữa các chiều sâu mũi đâm với ti trọng chính và
ti trọng sơ bộ, được đọc trực tiếp trên đồng hồHR = E - e
Hình A.13:Thiết bị đo độ cứng Rockwell
Trang 9
Có nhiều thang đo độ cứng HR, phổ biến nhất là HRB và HRCμ
- Thang Bμ giá trị đo được ký hiệu HRB (P = 100 kG)
- Thang Cμ giá trị đo được kí hiệu HRC (P = 1η0 kG)
- Thang A: giá trị đo được kí hiệu HRA (P = θ0 kG).
Giá trị độ cứng ghi trong báo cáo thử gồm một s theo sau là chữ cho biết
phương pha
p thư
̉
:
240 HV10: đô
̣
cư
ng 240, phương pha
p Vickers, ti đầu đo 10 kG (ả 10 daN).
22 HRC: đô
̣
cư
ng 22, phương pha
p Rockwell , đâu đo kim cương côn góc đỉnh
120
o
(thang C).
Nguồn: Ths Tô Thanh Tuần, Ảiáo trình kiểm tra chất lượng mối hàn theo tiêu
chuẩn quốc tế, Trưng CĐ nghề δilama 2, 2012.
Hình A.14.a:Kích thước vết lm đo độ cứngRockwell
Hình A.14.b:Kích thước vết lm đo độ cứngRockwell
Trang 10
Tuy vậy thì các phương pháp xác định độ cứng trên thưng vẩn phi phá hủy
hay làm trầy xước vật liệu đo nên sau khi đo xong bề mặt vật liệu đo bị hư hi.
III. H
Phương pháp nhiễu x tia X được sử dụng để xác định ứng suất dư, tính ứng
suất mi, xác định pha tinh thể mà không phá hủy chi tiết mẫu. Nhiều nghiên cứu
trước đây cho thấy, bất cứ sự thay đổi nào trong cấu trúc của vật liệu tinh thể (như
biến dng dẻo, xử lý nhiệt, quá trình hợp kim hóa,…) đều nh hưng đến các đặc
trưng của đưng nhiễu x X quang, bao gồm ba thông s quan trọng là vị trí đỉnh
nhiễu x, hình dng và độ lớn của đưng nhiễu xa theo luận văn của Tác giμTS. Lê
Chí Cương ”Absorption factor and influence of lpa factor on stress and diffraction
line width in x-ray stress measurement with and without restricsion of x-ray
diffractin area,
Ths.Hoàng Anh ” Phân tích các yếu tố nh hưởng đến độ rộng đường nhiễu x tia
X – quang”, Thực hiện năm 2008 ti đi học SPKT TP HCM.
εặt khác độ cứng của vật liệu liên quan đến cấu trúc tinh thể của vật liệu. Vậy độ
rộng của đưng nhiễu x này thì suy ra được mi quan hệ với độ cứng của vật liệu.
Bi vậy hướng nghiên cứu đề tài là dựa vào bề rộng trung bình đưng nhiễu x để
nghiên cứu và xác định độ cứng.
Độ cứng là thước đo sức bền của vật liệu khi bị va chm hay bị trầy xước và
được đo bằng các kỹ thuật thực nghiệm khác nhau. Tuy nhiên, các kết qu thu được
thưng biến đổi tùy theo phương pháp đo. Hướng nghiên cứu đo độ cứng bằng
nhiễu x tia X thì Trên thế giớ đã có một s nhà khoa học nghiên cưu về lĩnh vực
này:
1. Jing Shi and C. Richard Liu, Decomposition of Thermal and Mechanical Effects
on Microstructure and Hardness of Hard Turned Surfaces, School of Industrial
Engineering, Purdue University, West Lafayette, IN 47907, pp. 32-56.
Trang 11
Jing Chi Và C.Richard δiu đã nghiên cứu nh hưng của nhiệt độ và tính chất
cơ học đến cấu trúc tế vi và độ cứng trên bề mặt vật liệu.
2. D.J.Hornbach, et.al., X-ray Diffraction Chacracterization of the Residual Stress
and Hardness Distributions, First Int. Conf. on Induction Hardened Gears and
Critical Components, May 15-17, Indianapolis Gear Research Institute, 1995,
pp. 69-76.
D.J.Hornbach, nghiên cứu sự phân b độ cứng và ứng suất dư dựa vào đặc tính
nhiễu x tia X.
3. Kurita, M., X-Ray Stress Measurement By The Gaussian Curve Method, X-Ray
Diffraction Studies On The Deformation And Fracture Of Solids, Current
Japanese Materials Research, Vol.10, pp. 135-151, 1993.
Kurita, ε., đo ứng suất bi phương pháp đưng cong Gaussian và nghiên cứu
nứt bằng nhiễu x tia X.
4. L.C. Cuong and M. Kurita, Absorption Factor And Influence of LPA Factor On
Stress And Diffraction Line Width In X-Ray Stress Measurement With and
Without Restriction Of X-Ray Diffraction Area, The Japanese Society for
Experimental Mechanics, 2004, pp 7-14.
L.C. Cuong and M. Kurita, Nghiên cứu sự nh hưng và hấp thụ của hệ s δPA
đến ứng suất và bề rộng của đưng nhiễu x bằng phương pháp nhiễu x tia X
với phương pháp đo không giới hn phm vi nhiễu x.
IV.
Đề tài này nhằm xác định sự thay đổi pha của thép tôi và ram, thể hiện qua
độ cứng, với bề rộng trung bình của đưng nhiễu x tia X, từ đó đề xuất phương
pháp đo độ cứng cho các vật liệu tinh thể bằng phương pháp không phá hủy.
V.
1. Nhin v
Nghiên cứu kết qu bề rộng đưng nhiễu x tia X khi chiếu vào vật liệu, đo độ
cứng của vật liệu với phương pháp đo độ cứng Rockwell (HRC). Xử lý s liệu đo,
Trang 12
từ đó lập mi quan hệ tuyến tính giữa độ cứng và bề rộng trung bình của đưng
nhiễu x(B).
2. Gii h tài
Trong đề tài này chỉ giới hn xác định độ cứng cho vật liệu thép C50.
S lượng mẫu thí nghiệm là 11. Tôi 10 mẫu nhiệt độ 830
0
giữ nhiệt trong
thi gian 15 phút. Sau đó lấy 9 mẫu trong s 10 mẫu đem ram các nhiệt độ
khác nhau: 250
0
, 300
0
, 350
0
, 400
0
, 450
0
, 500
0
, 550
0
600
0
, 650
0
trong
thi gian 45 phút.
VI. u
Dựa trên cơ s lý thuyết về vật lý tia X, lý thuyết nhiệt luyện và phương
pháp phân tích đưng nhiễu x, lý thuyết hàm Gaussian, lý thuyết xác xuất
thng kế, lý thuyết quy hoch thực nghiệm.
Trang 13
C 1:
1.1. -ray[9].
1.1.1
Khi chiếu tia X có bước sóng (10
-4
– 10
2
0
) tương ứng với khong cách giữa
các mặt phẳng nguyên tử vào vật rắn tinh thể sẻ xuất hiện các tia nhiễu x với
cưng độ và các phương khác nhau, các phương nhiễu x phụ thuộc vào bước sóng
của bức x tới và bn chất của mẫu tinh thể. Định luật Bragg thiết lập mi quan hệ
giữa bước sóng tia X và khong cách giữa các mặt nguyên tử.
Các gi thuyết μ Các mặt phẳng nguyên tử phn x các bức x tới phi độc
lập, các tia tới phi tán x hoàn toàn.
Gi sử hai mặt phẳng nguyên tử song song A-A’ và B-B’ có cùng chỉ s
Millier h,k,l và cách nhau bi khong cách giữa hai mặt phẳng nguyên tử d
hkl
,
chúng ta xem mặt tinh thể của tâm tán x nguyên tử là các mặt tinh thể và phn x
ging như gương đi với tia X.
Gi sử hai tia a1 và a2 đơn sắc, song song và cùng pha với bước sóng chiếu
vào hai mặt phẳng A-A’ và B-B’ dưới góc .
Hình B1.1: Định luật Bragg
Q