Tải bản đầy đủ (.doc) (11 trang)

TỪ TÍNH và TÍNH CHẤT bề mặt của bột NANO fe3o4 PHA tạp zn, cu CHẾ tạo BẰNG PHƯƠNG PHÁP hóa học

Bạn đang xem bản rút gọn của tài liệu. Xem và tải ngay bản đầy đủ của tài liệu tại đây (336.11 KB, 11 trang )

Hội nghị sinh viên NCKH Khoa Vật Lí - năm 2015
TỪ TÍNH VÀ TÍNH CHẤT BỀ MẶT CỦA BỘT NANO Fe 3O4 PHA TẠP Zn, Cu
CHẾ TẠO BẰNG PHƯƠNG PHÁP HÓA HỌC
Hoàng Thị Thâm, Nguyễn Thị Huyền Trang, Nguyễn Thị Trang, PGS.TS Trần Minh Thi
Khoa Vật lí, Đại Học Sư Phạm Hà Nội –Việt Nam.


1. MỞ ĐẦU
Hiện nay vật liệu nano từ tính đang được nghiên cứu với nhiều tính chất từ khác
nhau khi pha tạp các vật liệu khác vào. Điển hình khi ta nghiên cứu từ tính của hạt
nano spinel ferit Fe3O4 pha tạp các kim loại chuyển tiếp có nhiều ứng dụng trong y
sinh, chất lỏng từ, hấp phụ chất ô nhiễm nước...Từ tính của vật liệu được quyết định
bởi phương pháp chế tạo, nồng độ của các chất tham gia phản ứng, môi trường phản
ứng [1, 2, 3].
Cấu trúc spinel (AB2O4) của Fe3O4 có ion Fe3+ ở vị trí A bao quanh bởi bốn oxi
(vị trí tứ diện) và ion Fe 2+ và ion Fe3+ ở vị trí B bao quanh bởi sáu oxi (vị trí bát diện).
Khi đó từ tính của vật liệu do Fe2+ quyết định.
Khi pha tạp Zn, Cu vào Fe3O4 thì có sự thay đổi trong cấu trúc của vật liệu được
chế tạo thành. Đối với việc pha tạp Cu vào Fe 3O4 tạo ra mẫu có dạng Fe 1-xCuxFe2O4
có sự thay thế của ion Cu2+ vào vị trí Fe2+ ở vị trí bát diện (B) đây là spinel nghịch đảo.
Còn đối với mẫu pha tạp Zn vào Fe3O4 thì tạo ra mẫu có dạng Fe1-xZnxFe2O4 có sự thay
thế của Zn2+ vào chỗ của ion Fe3+ ở vị trí tứ diện (A) đây là spinel thường và làm
momen từ của mẫu mới chế tạo thay đổi so với mẫu không pha tạp.
Trong bài nghiên cứu này, việc quan sát hiệu ứng pha tạp của Zn, Cu vào Fe 3O4
thể hiện qua đo XRD, đo đường cong từ hóa VSM, đo TEM, đo SEM, đo BET…

Mục đích nghiên cứu:
- Nghiên cứu chế tạo Fe3O4 pha tạp Cu, Zn
- Nghiên cứu ảnh hưởng của hàm lượng pha tạp Cu, Zn tới tính chất từ, cấu
trúc vi mô của mẫu
- Khảo sát diện tích bề mặt riêng của hệ mẫu Fe3O4 pha tạp Zn.




Hội nghị sinh viên NCKH Khoa Vật Lí - năm 2015
2. NỘI DUNG
 Tạo mẫu :
+ Hóa chất và dụng cụ thí nghiệm
- Hóa chất :
• Dung dịch HCl (Trung quốc) 37%
• Natri sunfit Na2SO3 (Trung quốc), dung dịch NH3 đậm đặc, FeCl3.6H2O
(Trung quốc), nước cất (1 lần và 2 lần), axeton độ sạch 99%.
• Kẽm axetat (CH3COO)2Zn.2H2O (Đức), đồng axetat (CH3COO)2Cu.H2O
(Đức) độ sạch 99%.
• Dung dịch NH3 25%.
-

Dụng cụ :

• Máy khuấy từ, con từ.
• Cốc đựng thủy tinh ; pipet.
• Máy lọc, giấy lọc, giấy hút ẩm.
• Tủ Host.
• Máy sấy chân không.
+ Tiến hành thí nghiệm :
Chế tạo Fe3O4 pha tạp kim loại Zn, Cu theo tỉ lệ 0%, 5%, 10%, 15%. Tiến hành
thí nghiệm ta hút 0.85ml dung dịch HCl 1M pha vào trong 100ml nước cất. Lấy
20.25g FeCl3.6H2O và lượng pha tạp 0%, 5%, 10%, 15% của (CH 3COO)2Cu.H2O
(hoặc của (CH3COO)2Zn.2H2O) cho vào 0.85ml HCl 1M và 100ml nước cất, khuấy tan
ta được dung dịch 1 (dd1). Lấy 1.575g Na2SO3 pha vào 50ml dung dịch nước cất ta thu
được dung dịch 2 (dd2). Trộn cả hai dung dịch ta thu được dung dịch 3 (dd3) màu nâu
khuấy đều đến khi dung dịch chuyển sang màu vàng tươi. Cho NH 3 vào dung dịch 3

(dd3) sao cho pH 9÷10 và khuấy đều trong vòng 30 phút ở nhiệt độ 80 0C kết thúc ta
thu được hỗn hợp màu đen. Đưa hỗn hợp lên nam châm và lọc bằng nước cất, axeton.
Cuối cùng đem sấy ở 400C trong nhiều giờ, nghiền và ta thu được hạt nano từ.
Đem mẫu chế tạo được cất vào tủ hút ẩm và đem đi đo.
 Các phương pháp nghiên cứu
• Đo Ronghen (nhiễu xạ tia X)
Nguyên tắc của nhiễu xạ tia X để xác định, nhận dạng pha tinh thể được thiết lập và
dựa trên điều kiện Bragg.
2d(hkl)sinθ = nλ

(1.1)

Với n = 1,2,3,…là bậc nhiễu xạ. Phương trình này gồm 3 thông số d(hkl) là khoảng
cách giữa hai họ mặt phẳng mạng, θ và λ của bước sóng tới. Để thỏa mãn điều kiện
nhiễu xạ trên một họ mặt phẳng mạng (hkl), khi bước sóng tới λ cố định, thay đổi, ta
có phương pháp bột. Mô tả hiện tương qua hình dưới đây.


Hội nghị sinh viên NCKH Khoa Vật Lí - năm 2015

Mạng lập phương (a = b = c)
=

(1.2)

Trong đó h, k, l : chỉ số Miler
Đường kính hạt tính theo công thức :
D = kλ/βcosθ
Trong đó :
k = 0.9, λ = 0.15406nm, β độ bán rộng của đỉnh phổ.

Đo bằng máy SIEMENS D5005 Bruker Germany, Bức xạ Cu-K α với bước sóng λ =
1,5406 …., cường độ dòng điện bằng 30 mA, điện áp 40kV, góc quét 2θ = 10 0 ÷ 800,
tốc độ quét 0,0300/s. Để xác định các pha kết tinh dùng dữ liệu ATSM và được tiến
hành trên máy tính, các cường độ phản xạ được ghi trên cùng một thang. Phép đo được
đo tại Viện Hàn Lâm Khoa Học Việt Nam.
• Đo TEM
Kính hiển vi điện tử truyền qua được phát triển từ những năm 1930 là công cụ
kĩ thuật không thể thiếu được trong nghiên cứu khoa học đặc biệt là trong vật liệu và y
học. Dựa trên nguyên tắc hoạt động cơ bản của kính hiển vi quang học, kính hiển vi
điện tử truyền qua có ưu điểm nổi bật nhờ bước sóng chùm điện tử ngắn hơn rất nhiều
so với ánh sáng nhìn thấy nên nó có thể quan sát tới kích cỡ 0,2 nm. Các điện tử từ
catot bằng dây tungsten đốt nóng đi tới anot và được hội tụ bằng “thấu kính từ” lên
mẫu đặt trong buồng chân không. Tác dụng của tia điện tử tới mẫu có thể tạo ra chùm
điện thứ cấp, điện tử phản xạ điện tử Auger, tia X thứ cấp, phát quang catot và tán xạ
không đàn hồi với các đám mây điện tử trong mẫu và cùng với tán xạ đàn hồi với hạt
nhân nguyên tử. Các tín hiệu điện tử truyền qua mẫu được khuếch đại và ghi lại dưới
dạng ảnh huỳnh quang hoặc kĩ thuật số.
Nhiễu xạ điện tử truyền qua có thể cung cấp những thông tin rất cơ bản về cấu
trúc tinh thể và đặc trưng của vật liệu. Chùm điện tử nhiễu xạ từ vật liệu phụ thuộc vào
bước sóng của chùm điện tử tới và khoảng cách mặt mạng trong tinh thể tuân theo
định luật Bragg như đối với nhiễu xạ tia X: n = 2dsinθ. Khác với nhiễu xạ tia X, do
bước sóng của chùm điện tử thường rất nhỏ nên ứng với các khoảng cách mặt mạng
trong tinh thể thì góc nhiễu xạ phải rất bé, cỡ dưới 0,01 0. Tùy thuộc vào bản chất của
vật liệu, ảnh nhiễu xạ điện tử thường là những vùng sáng, tối gọi là trường sáng, tối.
Vùng sáng là ảnh của vật liệu vô định hình còn vùng tối là ảnh của vật liệu có dạng
tinh thể.


Hội nghị sinh viên NCKH Khoa Vật Lí - năm 2015
Chụp ảnh kính hiển vi điện tử truyền qua (TEM) sử dụng thiết bị Hiển vi điện tử

truyền qua phân giải (HRTEM) Tecnai G2 F20 của hãng FEI (Mỹ) tại phòng thí
nghiệm Hiển vi điện tử và phân tích BKEMMA – Viện Tiên Tiến Khoa Học và Công
Nghệ - Trường Đại Học Bách Khoa Hà Nội.
• Đo độ từ hóa VSM
Nguyên lí hoạt động của thiết bị này dựa trên cơ sở hiện tượng cảm ứng điện từ.
Bằng cách thay đổi vị trí tương đối của mẫu có momen từ M với cuộn dây thu, từ
thông qua tiết diện ngang của cuộn dây sẽ thay đổi theo thời gian làm xuất hiện trong
nó một suất điện động cảm ứng. Các tín hiệu đo được (tỉ lệ với M) sẽ được chuyển
sang giá trị của đại lượng từ cần đo bằng một hệ số chuẩn của hệ đo.
Mẫu đo được gắn vào một đầu thanh rung không từ tính, đặt gữa hai cuộn dây
nhỏ giống hệt nhau quấn ngược chiều mắc nối tiếp. Toàn bộ hệ thống được đặt giữa
hai cực của một nam châm điện. Khi mẫu dao động, 2 đầu cuộn dây xuất hiện một suất
điện động.
Thiết bị này cho phép khảo sát sự phụ thuộc từ độ vào cường độ từ trường,
dụng đường cong từ trễ và xác định được sự phụ thuộc của từ độ vào nhiệt độ, khi đó
ta xác định được nhiệt độ Curie của vật liệu.
Hệ VSM xét về bản chất thì nguyên tắc hoạt động tuân theo định luật Faraday
(sự xuất hiện của suất điện động khi có sự biến thiên từ thông). Ở VSM mẫu được từ
hóa bởi từ trường mạnh, dao động điều hòa với biên độ nhỏ, cố định so với cuộn pick
– up.
Hiệu điện thế tạo ra do dao động của mẫu là :
(1.3)

Trong đó

là vi phân diện tích mặt được căng bởi một vòng dây

Mẫu được đặt trong từ trường và bị từ hóa. Khi đó có thể coi mẫu là một lưỡng
cực từ có momen lưỡng cực là
=


]

. Từ trường sinh ra bởi lưỡng cực từ là:
(1.4)


(

(1.5)

xác định vị trí lượng cực, i = x, y, z
Từ V(t) ta xác định được momen từ của mẫu
Phép đo từ trễ được thực hiện trên hệ đo từ trễ mẫu rung. Hệ đo từ trễ máy rung với độ
nhạy 10-4 emu đặt tại phòng thí nghiệm vật liệu từ và siêu dẫn – Viện khoa học Vật
Liệu. Tốc độ quét từ trường có thể thay đổi nhờ bộ phận điều khiển từ trường. Nhiệt
độ của mẫu có thể thay đổi trong khoảng từ 77K (nhiệt độ của nitơ lỏng) đến 1100K.
Quá trình ghi số liệu được tự động hóa qua việc ghép nối các thiết bị đo với máy tính
theo đường truyền dữ liệu IEEE – 488 (GPIB). Sai số của hệ đo nhỏ hơn 1%.


Hội nghị sinh viên NCKH Khoa Vật Lí - năm 2015
• Đo SEM
Việc phát các chùm điện tử trong SEM cũng giống như việc tạo ra chùm điện tử
trong kính điện tử truyền qua, tức là điện tử được phát ra từ súng phóng điện tử (có thể
là phát xạ nhiệt, hay phát xạ trường...), sau đó được tăng tốc. Tuy nhiên, thế tăng tốc
của SEM thường chỉ từ 10 kV đến 50 kV vì sự hạn chế của thấu kính từ, việc hội tụ
các chùm điện tử có bước sóng quá nhỏ vào một điểm kích thước nhỏ sẽ rất khó khăn.
Điện tử được phát ra, tăng tốc và hội tụ thành một chùm điện tử hẹp (cỡ vài trăm
Angstrong đến vài nanomet) nhờ hệ thống thấu kính từ, sau đó quét trên bề mặt mẫu

nhờ các cuộn quét tĩnh điện. Độ phân giải của SEM được xác định từ kích thước chùm
điện tử hội tụ, mà kích thước của chùm điện tử này bị hạn chế bởi quang sai, chính vì
thế mà SEM không thể đạt được độ phân giải tốt như TEM. Ngoài ra, độ phân giải của
SEM còn phụ thuộc vào tương tác giữa vật liệu tại bề mặt mẫu vật và điện tử. Khi điện
tử tương tác với bề mặt mẫu vật, sẽ có các bức xạ phát ra, sự tạo ảnh trong SEM và các
phép phân tích được thực hiện thông qua việc phân tích các bức xạ này. Các bức xạ
chủ yếu gồm:
- Điện tử thứ cấp: Đây là chế độ ghi ảnh thông dụng nhất của kính hiển vi điện
tử quét, chùm điện tử thứ cấp có năng lượng thấp (thường nhỏ hơn 50 eV) được ghi
nhận bằng ống nhân quang nhấp nháy. Vì chúng có năng lượng thấp nên chủ yếu là
các điện tử phát ra từ bề mặt mẫu với độ sâu chỉ vài nanomet, do vậy chúng tạo ra ảnh
hai chiều của bề mặt mẫu.
- Điện tử tán xạ ngược: Điện tử tán xạ ngược là chùm điện tử ban đầu khi tương
tác với bề mặt mẫu bị bật ngược trở lại, do đó chúng thường có năng lượng cao. Sự tán
xạ này phụ thuộc rất nhiều vào thành phần hóa học ở bề mặt mẫu, do đó ảnh điện tử
tán xạ ngược rất hữu ích cho phân tích về độ tương phản thành phần hóa học. Ngoài ra
việc ghi nhận hình ảnh điện tử nhiễu xạ còn phân tích được cấu trúc tinh thể.
Tính toán số liệu bằng phần mềm origin.
 Kết quả và thảo luận
• Phân tích cấu trúc qua kết quả đo XRD
a. Hệ mẫu Fe1-xZnxFe2O4 (x = 0 ; 0,05 ; 0,10 ; 0,15)


Hội nghị sinh viên NCKH Khoa Vật Lí - năm 2015
400

311

b. Fe0.95Zn0.05Fe2O4


Intensity (a.u.)

350

422

c. Fe0.90Zn0.10Fe2O4

300
250

a. Fe3O4

d. Fe0.85Zn0.15Fe2O4
220

400

511

422

200

533

d
150

c


100

b

50
a
0

30

40

50

2 theta (degree)

60

70

80

Hình 1. Giản đồ Ronghen của hệ mẫu Fe1-xZnxFe2O4 (x = 0 ; 0,05 ; 0,10 ; 0,15)
Bảng 1. Hằng số mạng và kích thước hạt hệ mẫu Fe1-xZnxFe2O4

Mẫu

Fe3O4




0
a (A ) (hằng số

Fe0,95Zn0,5Fe2O4

Fe0,90Zn0.10Fe2O4

Fe0,85Zn0,15Fe2O4

8,38

8,386

8,390

8,390

13,2

13,2

12,1

11,2



mạng) ∆a =10-3 A0

D (kích thước hạt)
nm

Ta thấy hằng số mạng trung bình của mẫu pha Zn vào Fe 3O4 tăng nhẹ so với mẫu không
pha. Điều này chứng tỏ rằng có sự thay thế ion Fe3+ bởi ion Zn2+ ở vị trí tứ diện (A).
Vì bán kính ion Zn2+ (0.74Å) lớn hơn bán kính ion Fe3+(0.64Å. Nghiên cứu cho thấy
có sự thay thế ion Fe3+ bởi ion Zn2+ ở vị trí tứ diện (A) làm tăng hằng số mạng, đồng
thời số lượng ion Fe2+ tương ứng ở vị trí bát diện (B) phát xạ electron và trở thành Fe 3+
để cân bằng điện tích của ô mạng. Sự thay thế và chuyển hoá này làm cho phân bố các
ion trong các phân mạng thay đổi và đã trở thành [Znx2+Fe1-x3+]A[Fe3+Fex3+Fe1-x2+].
b.Hệ mẫu Fe1-xCuxFe2O4 (x = 0 ; 0,05 ; 0,10 ; 0,15)


Hội nghị sinh viên NCKH Khoa Vật Lí - năm 2015
3.0
311

Fe1-xCuxFe2O4

Intensity (a.u.)

2.5
2.0

440

511
220

400


422

x=0.15

1.5

x=0.10

1.0

x=0.05

0.5
0.0

533

x=0.00
30

40

50

60

2 theta (degree)

70


80

Hình 2. Giản đồ Ronghen của hệ mẫu Fe1-xCuxFe2O4 (x = 0 ; 0,05 ; 0,10 ; 0,15)
Bảng 2. Hằng số mạng và kích thước hạt hệ mẫu Fe1-xCuxFe2O4
Mẫu


0
a (A ) (hằng số

Fe3O4

Fe0,95Cu0,5Fe2O4

Fe0,90Cu0.10Fe2O4

Fe0,85Cu0,15Fe2O4

8,38

8,368

8,364

8,358

13,2

13,2


12.37

11.78



mạng) ∆a =10-3 A0
D (kích thước hạt)
nm

Hình 3.a. Ảnh SEM của mẫu

Fe0,90Zn0,10Fe2O4

Hình 3.b. Ảnh TEM của mẫu

Fe3O4

Hình 3. Ảnh SEM của mẫu Fe0,90Zn0,10Fe2O4 và ảnh TEM của Fe3O4

Ta thấy hằng số mạng trung bình của việc pha Cu vào Fe 3O4 giảm so với mẫu không
pha chứng tỏ ion Cu2+ đã thay thế Fe2+ tại vị trí bát diện (B). Điều này là do bán kính


Hội nghị sinh viên NCKH Khoa Vật Lí - năm 2015
của ion Fe2+ = 0.83 Å trong khi của Cu 2+ là 0.76 Å. Tuy nhiên việc pha Cu không làm
ảnh hưởng nhiều đến cấu trúc của vật liệu.
• Đường cong từ hóa VSM
Khi pha tạp Zn vào Fe3O4 có sự thay đổi ion trong vị trí tứ diện (A) và vị trí bát

diện (B) do đó có sự thay đổi momen từ hóa. Nghiên cứu cho thấy có sự thay thế ion
Fe3+ bởi Zn2+ ở vị trí tứ diện làm tăng hằng số mạng xảy ra đồng thời với ion Fe 2+ tạo
thành ion Fe3+ thông qua việc phát xạ electron để trung hòa điện tích trong tinh thể.
Nguyên nhân giá trị Ms thay đổi theo các định hướng spin của ion Fe 3+ trong vị trí bát

diện (B). Như vậy: Mẫu Fe3O4 và Fe3O4 pha Zn chế tạo được đều thể hiện được tính
siêu thuận từ ở nhiệt độ phòng. Khi hàm lượng Zn pha vào vật liệu tăng làm tăng,
giảm Ms không theo quy luật. Tuy nhiên, các mẫu pha Zn cũng làm tăng Ms so với
mẫu không pha. Điều này đã khắc phục được việc giảm momen từ hóa của mẫu Fe 3O4
không pha do bị oxi hóa, hiệu ứng bề mặt…

Ta thấy hàm lượng Cu tăng từ 0% đến 15% làm cho Ms giảm điều này chứng tỏ Cu 3+
đã thay thế được nhiều hơn Fe2+ tại vị trí bát diện (B). Vì momen từ của Fe 3O4 có
nguồn gốc từ momen của ion Fe 2+. Mà giá trị momen từ riêng của Fe 2+ là 4µB, trong
khi của ion Cu2+ là 1µB. Nên khi pha Cu với nồng độ tăng dần vào Fe 3O4 thì làm cho
độ từ bão hòa giảm. Tuy nhiên, do thay đổi nồng độ Cu nhỏ nên Ms cũng không thay
đổi quá lớn.


Hội nghị sinh viên NCKH Khoa Vật Lí - năm 2015
Giảithích:
Các moman từ ở các vị trí A và B phân bố phản song song, do tương tác siêu trao đổi:
- Đối với Fe3O4 trong spin đảo, Fe3+ đều có mặt tại các vị trí A & B với số lượng như
nhau nên tính chất từ do Fe2+ ở vị trí B quyết định.

- Đối với Cu pha tạp Fe 3O4, Hằng số mạng của mẫu Fe1-xCuxFe2O4 (x = 0,5,10,15)
giảm khi nồng độ pha tạp Cu tăng điều đó chứng tỏ ion Cu2+ (bán kính ion 0.76 Å)
thay thế ion Fe2+ (bán kính ion 0.83 Å) ở vị trí bát diện (B) [3]. Do sự thay thế ion Fe2+
(momen từ riêng 4��) bởi ion Cu2+ (momen từ riêng 1�B) vào vị trí bát diện [3],
momen từ của mẫu giảm theo sự tăng của hàm lượng Cu

- Đối với Zn pha tạp Fe3O4, theo Jun Liu và cộng sự [4], sự thay thế số ion Fe3+ bởi các
ion ��2+ ở vị trí tứ diện A xảy ra, đồng thời số lượng ion ��2+ tương ứng ở vị trí bát
diện B phát xạ electron và trở thành Fe 3+ để cân bằng điện tích của ô mạng. Sự thay
thế và chuyển hoá này làm cho phân bố các ion trong các phân mạng thay đổi thành:
[Znx2+Fe1-x3+]A[Fe3+Fex3+Fe1-x2+]B. Kết quả đo momen từ phụ thuộc vào hàm lượng x
được được coi là do hướng spin của Fe x3+ trong vị trí B có tính quyết định.
- Sự thay thế ion ��3+ ( bán kính ion 0.64Å) bởi ion ��2+ (bán kính ion là 0.74Å) ở
vị trí tứ diện (A) [4] làm cho hằng số mạng a của mẫu Fe 1-xZnxFe2O4 (x = 0,5,10,15)
tăng với sự tăng của x.
• Khảo sát tính xốp và diện tích bề mặt của các hạt
Tính xốp và diện tích bề mặt riêng của các mẫu được khảo sát bởi sự hấp phụ các
phân tử khí N2 ở nhiệt độ 77 K. Các phân tử N 2 được bám dính trên bề mặt các hạt
nano thoả mãn phương trình đẳng nhiệt hấp phụ Langmuir:
Diện tích bề mặt riêng và kích thước lỗ xốp được tính theo phương pháp BET [8]
Bảng 3. Các kết quả phân tích bề mặt các hạt nano cho hệ mẫu Fe1-xZnx Fe2O4
Diện tích bề mặt
riêng BET

Thể tích lỗ riêng

Kích thước lỗ xốp

ở p/p° =0.990481185

BET

Fe3O4

57.5508 m²/g


0.200643 cm³/g

13.94543 nm

Fe0,95Zn0,05Fe2O4

62.6489 m²/g

0.231219 cm³/g

14.76282 nm


Hội nghị sinh viên NCKH Khoa Vật Lí - năm 2015
Fe0,90Zn0,10 Fe2O4

66.6679 m²/g

0.243221 cm³/g

14.59300 nm

Fe0,85Zn0,15 Fe2O4

65.8236 m²/g

0.207183 cm³/g

12.59022 nm


3. KẾT LUẬN
Từ tính và sự thay đổi hằng số mạng, tính chất xốp và diện tích bề mặt riêng
của các hạt nano Fe1-xCux Fe2O4, Fe1-xZnxFe2O4 đã được nghiên cứu. Những đặc điểm
này có thể được khảo sát tiếp trong các ứng dụng trong y học và xử lí ô nhiễm môi
trường. Việc pha tạp Zn và Cu vào Fe3O4, làm ổn định độ từ bão hòa của Fe3O4 là hết
sức cần thiết, tuy nhiên sự thay đổi momen từ khi tăng hàm lượng Cu hoặc Zn trong
mẫu là cần tiếp tục nghiên cứu.

4. TÀI LIỆU THAM KHẢO:
1. A. Manikandan, J. Judith Vijaya, and L. John Kennedy. Structural, Optical
and Magnetic Properties of Porous α-Fe2O3 Nanostructures Prepared by
Rapid Combustion Method. Journal of Nanoscience and Nanotechnology
Vol. 13, 2986–2992, 2013.
2.

Deepshikha Rathore, Rajnish Kurchania, and R. K. Pandey. Structural,
Magnetic and Dielectric Properties of Ni1−xZnxFe2O4 (x = 0, 0.5 and 1)
Nanoparticles Synthesized by Chemical Co-Precipitation Method. Journal of
Nanoscience and Nanotechnology Vol. 13, 1812–1819, 2013.

3.

Dan Wang, Qian Ma, and Ping Yang. Synthesis of Fe3O4 Nanoparticles
with Tunable and Uniform Size Through Simple Thermal Decomposition.
Journal of Nanoscience and Nanotechnology Vol. 12, 6432–6438, 2012

4.

D. Tripathy, A.O. Adeyeyea, C.B. Boothroyd, S. Shannigrahi,
Microstructure and magneto transport properties of Cu doped Fe 3O4 films,

J. Appl. Phys. 103 (2008)07F701.

5. J. W. Park, A. N. Jang, J. H. Song, C. Y. Park, and Y. S. Lee. Electronic
Structure of Zn Doped Fe3O4 Thin Film. Journal of Nanoscience and
Nanotechnology Vol. 13, 1895–1898, 2013.
6. H.M. Zaki, S. Al-Heniti, Ahmad. Umar, F. Al-Marzouki, A. Abdel-Daiem,
T.A.Elmosalami, H.A. Dawoud, F.S. Al-Hazmi, S.S. Ata-Allah,
Magnesium–zinc ferrite nanoparticles: effect of copper doping on the
structural, electrical and magneticproperties, J. Nanosci. Nanotechnol. 13
(2013) 4056–4065.


Hội nghị sinh viên NCKH Khoa Vật Lí - năm 2015
7.

Jun Liu, Yuezhen Bin, and Masaru Matsuo. Magnetic Behavior of ZnDoped Fe3O4 Nanoparticles Estimated in Terms of Crystal Domain Size
The Journal of Physical Chemistry C. dx.doi.org/10.1021/jp207354s J. Phys.
Chem. C 2012, 116, 134–143

8. Melanie Auffan, Jerome Pose, Olivier Proux, et al., Enhanced adsorption of
arsenic onto maghemites nanoparticles: As(III) as a probe of surface
structure and heterogeneity, Langmuir 24 (2008) 3215–3222.



×